本文關(guān)鍵詞：大氣顆粒物單顆粒水平電流脈沖檢測技術(shù)研究，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：發(fā)展能從單顆粒水平測定大氣顆粒物的大小及粒徑分布譜,對于監(jiān)測大氣環(huán)境變化和空氣質(zhì)量具有重要意義。本論文在綜述現(xiàn)有大氣顆粒物檢測技術(shù)的基礎(chǔ)上,研究了兩種基于電流脈沖單顆粒水平上大氣顆粒物檢測技術(shù)。一種是結(jié)合電暈放電技術(shù),利用Coulter原理,搭建了用于檢測大氣顆粒物的檢測系統(tǒng)。采用精密靜電計(jì),實(shí)現(xiàn)了對最小10μm SiC顆粒物的電流檢測,信噪比為4—20。其中,電流脈沖信號(hào)的個(gè)數(shù)即為流經(jīng)檢測區(qū)顆粒的個(gè)數(shù),而脈沖信號(hào)的幅值大小則表征了顆粒的尺寸。此外,本論文還發(fā)明了基于靜電荷傳遞原理新型快速檢測大氣樣品中顆粒物的檢測方法,并實(shí)現(xiàn)了不同尺寸SiC顆粒物以及相近尺寸的顆粒物(聚苯乙烯顆粒物)的連續(xù)檢測,獲得了待測顆粒物粒徑與電流脈沖信號(hào)幅值的線性關(guān)系(線性相關(guān)系數(shù)大于0.9,利用該線性關(guān)系曲線,可在短時(shí)間內(nèi)完成待檢樣中的大氣顆粒物粒徑分布的預(yù)測)。該方法檢測原理可靠,檢測方法創(chuàng)新,設(shè)備整體結(jié)構(gòu)簡單,易于非專業(yè)人員使用等特點(diǎn)。本文提出的顆粒檢測技術(shù),可實(shí)現(xiàn)單顆粒水平上大氣中微顆粒物的連續(xù)電流脈沖檢測,不但豐富了傳統(tǒng)的大氣顆粒檢測技術(shù),并且對于發(fā)展應(yīng)用于大氣顆粒物快速檢測和分析便攜式儀器具有一定的參考價(jià)值。
【關(guān)鍵詞】：大氣顆粒物 電流脈沖 顆粒檢測
【學(xué)位授予單位】：大連海事大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號(hào)】：X831
【目錄】：

• 摘要5-6
• ABSTRACT6-9
• 第1章 緒論9-21
• 1.1 課題研究背景和意義9-13
• 1.1.1 船舶造成大氣污染9-10
• 1.1.2 大氣顆粒物的性質(zhì)及危害10-13
• 1.2 大氣顆粒物檢測技術(shù)研究現(xiàn)狀13-18
• 1.2.1 質(zhì)量濃度測定法13-16
• 1.2.2 個(gè)數(shù)濃度測定法16-18
• 1.3 單顆粒檢測技術(shù)發(fā)展意義18-20
• 1.4 論文研究目的及內(nèi)容20-21
• 第2章 基于電暈放電大氣顆粒物檢測實(shí)驗(yàn)研究21-39
• 2.1 檢測原理21-28
• 2.1.1 顆粒電子檢測21-24
• 2.1.2 電暈放電24-27
• 2.1.3 基于電暈放電大氣顆粒物檢測原理27-28
• 2.2 檢測系統(tǒng)28-31
• 2.2.1 系統(tǒng)組成28-29
• 2.2.2 檢測芯片設(shè)計(jì)29-30
• 2.2.3 閾值電壓30-31
• 2.3 實(shí)驗(yàn)方法和內(nèi)容31-34
• 2.3.1 檢測芯片的制作31-33
• 2.3.2 實(shí)驗(yàn)步驟33-34
• 2.3.3 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容34
• 2.4 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與討論34-38
• 2.4.1 電暈電流的穩(wěn)定性34-35
• 2.4.2 不同粒徑SiC顆粒的檢測35-38
• 2.5 本章小結(jié)38-39
• 第3章 基于電荷傳遞大氣顆粒物檢測實(shí)驗(yàn)研究39-53
• 3.1 檢測原理39-41
• 3.1.1 靜電荷傳遞39-40
• 3.1.2 基于電荷傳遞大氣顆粒物檢測原理40-41
• 3.2 檢測系統(tǒng)41-43
• 3.2.1 檢測系統(tǒng)電路41
• 3.2.2 系統(tǒng)組成41-43
• 3.2.3 檢測電極設(shè)計(jì)43
• 3.3 實(shí)驗(yàn)方法和內(nèi)容43-45
• 3.3.1 實(shí)驗(yàn)樣品制備43-44
• 3.3.2 實(shí)驗(yàn)步驟44-45
• 3.3.3 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容45
• 3.4 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與討論45-51
• 3.4.1 檢測環(huán)境噪音帶寬45-46
• 3.4.2 顆粒粒徑-電流幅值關(guān)系實(shí)驗(yàn)46-50
• 3.4.3 顆粒物粒徑分布測定實(shí)驗(yàn)50-51
• 3.5 本章小結(jié)51-53
• 第4章 結(jié)論與展望53-55
• 參考文獻(xiàn)55-62
• 攻讀學(xué)位期間公開發(fā)表論文62-63
• 致謝63-64
• 作者簡介64

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本文編號(hào)：346584