防御逆向攻擊的邏輯混淆電路設(shè)計(jì)
發(fā)布時(shí)間:2023-11-24 17:31
隨著超大規(guī)模集成電路(Very Large Scale Integration,VLSI)和信息安全技術(shù)的發(fā)展,集成電路(Integrated Circuit,IC)在現(xiàn)代電子通信領(lǐng)域中扮演著極其重要的角色。因此,知識(shí)產(chǎn)權(quán)(Intellectual Property,IP)的保護(hù)受到越來越多的關(guān)注。然而,對(duì)IP核展開的攻擊方式層出不窮,逆向工程是快速掌握設(shè)計(jì)者核心技術(shù)的途徑。攻擊者通過逆向工程剖析芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu),提取電路網(wǎng)表,掌握芯片的實(shí)際功能,芯片克隆等行為更是嚴(yán)重侵犯設(shè)計(jì)者的知識(shí)產(chǎn)權(quán)。因此抗逆向工程攻擊的邏輯混淆技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生,本文主要通過對(duì)逆向工程實(shí)施過程進(jìn)行深入剖析,采取虛擬孔、閾值電壓等物理級(jí)偽裝技術(shù),設(shè)計(jì)新型邏輯混淆電路來隱藏芯片的物理特征,使攻擊者難以提取電路關(guān)鍵信息,從而保護(hù)IC的功能不被破解,保護(hù)設(shè)計(jì)者的知識(shí)產(chǎn)權(quán)。研究?jī)?nèi)容主要包含以下幾個(gè)部分:1.基于虛擬孔的防逆向工程密鑰泄漏偽裝門電路設(shè)計(jì):首先通過對(duì)密鑰泄漏的原因進(jìn)行分析,結(jié)合虛擬孔隱蔽性高的特點(diǎn),將不同邏輯功能集成到一個(gè)單元電路,然后提出安全加密模型及相似性的概念,將邏輯混淆電路應(yīng)用于高級(jí)加密算法IP核,最后完成電...
【文章頁數(shù)】:63 頁
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【文章目錄】:
引言
1 緒論
1.1 研究背景及意義
1.2 國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1.3 內(nèi)容安排
2 逆向工程及邏輯混淆概述
2.1 逆向工程技術(shù)
2.2 行為級(jí)狀態(tài)冗余技術(shù)
2.3 物理級(jí)電路偽裝技術(shù)
2.4 本章小結(jié)
3 基于虛擬孔的防逆向工程密鑰泄漏偽裝門電路設(shè)計(jì)
3.1 密鑰泄漏
3.2 F4I1 偽裝門電路
3.3 電路網(wǎng)表的融合
3.4 硬件安全加密應(yīng)用
3.5 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析
3.6 本章小結(jié)
4 基于虛擬孔的多米諾邏輯混淆電路設(shè)計(jì)
4.1 多米諾邏輯電路
4.2 多米諾邏輯混淆電路
4.2.1 二輸入多米諾邏輯混淆電路
4.2.2 多輸入多米諾邏輯混淆電路
4.3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析
4.4 本章小結(jié)
5 基于TVD的邏輯混淆電路設(shè)計(jì)
5.1 虛擬孔的不足及DPA攻擊
5.2 基于TVD的二輸入邏輯混淆電路
5.3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析
5.4 本章小結(jié)
6 總結(jié)與展望
6.1 工作總結(jié)
6.2 未來工作展望
參考文獻(xiàn)
附錄
在學(xué)研究成果
致謝
Abstract
摘要
本文編號(hào):3866266
【文章頁數(shù)】:63 頁
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【文章目錄】:
引言
1 緒論
1.1 研究背景及意義
1.2 國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1.3 內(nèi)容安排
2 逆向工程及邏輯混淆概述
2.1 逆向工程技術(shù)
2.2 行為級(jí)狀態(tài)冗余技術(shù)
2.3 物理級(jí)電路偽裝技術(shù)
2.4 本章小結(jié)
3 基于虛擬孔的防逆向工程密鑰泄漏偽裝門電路設(shè)計(jì)
3.1 密鑰泄漏
3.2 F4I1 偽裝門電路
3.3 電路網(wǎng)表的融合
3.4 硬件安全加密應(yīng)用
3.5 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析
3.6 本章小結(jié)
4 基于虛擬孔的多米諾邏輯混淆電路設(shè)計(jì)
4.1 多米諾邏輯電路
4.2 多米諾邏輯混淆電路
4.2.1 二輸入多米諾邏輯混淆電路
4.2.2 多輸入多米諾邏輯混淆電路
4.3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析
4.4 本章小結(jié)
5 基于TVD的邏輯混淆電路設(shè)計(jì)
5.1 虛擬孔的不足及DPA攻擊
5.2 基于TVD的二輸入邏輯混淆電路
5.3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析
5.4 本章小結(jié)
6 總結(jié)與展望
6.1 工作總結(jié)
6.2 未來工作展望
參考文獻(xiàn)
附錄
在學(xué)研究成果
致謝
Abstract
摘要
本文編號(hào):3866266
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