VLSI技術(shù)的快速提高導(dǎo)致硬件設(shè)計(jì)復(fù)雜性增大,使得檢查電路的正確性已經(jīng)變成一項(xiàng)非常困難的任務(wù)。在后面的設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)中或者等到產(chǎn)品完成后再糾正錯(cuò)誤將會(huì)耗費(fèi)更多的費(fèi)用,因此,為了能避免高額的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)費(fèi)用,設(shè)計(jì)中的早期錯(cuò)誤檢測(cè)變得越來(lái)越重要。 傳統(tǒng)的驗(yàn)證方法就是對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行窮盡的模擬,即建立一個(gè)模型,用軟件或者硬件方法賦予輸入大量的測(cè)試向量,然后把模型輸出和參考模型的功能進(jìn)行比較來(lái)達(dá)到驗(yàn)證目的。但是這種方法不能完全保證設(shè)計(jì)的正確性,尤其是在大規(guī)模電路設(shè)計(jì)中,模擬驗(yàn)證的時(shí)間更要花費(fèi)幾年之久,這是我們無(wú)法忍受的。作為傳統(tǒng)的模擬驗(yàn)證方法的補(bǔ)充,形式驗(yàn)證越來(lái)越引起人們的關(guān)注,它是通過(guò)嚴(yán)格的數(shù)學(xué)推理來(lái)證明一個(gè)系統(tǒng)滿足全部或部分規(guī)范。形式化驗(yàn)證能大大減小設(shè)計(jì)時(shí)間而且能對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行完全覆蓋驗(yàn)證。它不用波形或者激勵(lì)而是直接采用硬件描述的方式,這樣能更快得到結(jié)果和探測(cè)錯(cuò)誤。等價(jià)性驗(yàn)證作為形式驗(yàn)證方法的一種,常被用于驗(yàn)證綜合后電路以及人工修改后的電路。等價(jià)性檢查主要用于驗(yàn)證RTL和RTL之間,RTL和門級(jí)網(wǎng)表之間以及門級(jí)網(wǎng)表和門級(jí)網(wǎng)表之間的等價(jià)性。 本論文對(duì)一些傳統(tǒng)的組合電路及時(shí)序電路等價(jià)性驗(yàn)證方法進(jìn)行了介紹、分析、比...

【文章頁(yè)數(shù)】：61 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
Abstract
引言
1 緒論
    1.1 研究的背景和意義
    1.2 國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
2 集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證綜述
    2.1 模擬驗(yàn)證方法
        2.1.1 軟件模擬
        2.1.2 硬件仿真
        2.1.3 測(cè)試
    2.2 形式化驗(yàn)證
        2.2.1 模型檢驗(yàn)
        2.2.2 定理證明
        2.2.3 等價(jià)性檢查
    2.3 半形式化驗(yàn)證
        2.3.1 覆蓋率驅(qū)動(dòng)的驗(yàn)證方法
        2.3.2 符號(hào)模擬
    2.4 本章小結(jié)
3 二叉判定圖及其在等價(jià)性驗(yàn)證中的應(yīng)用
    3.1 二叉判定圖相關(guān)的定義
        3.1.1 基本的二叉判定圖
        3.1.2 有序二叉判定圖
        3.1.3 精簡(jiǎn)的有序二叉判定圖
    3.2 二叉判定圖的性質(zhì)
    3.3 電路的二叉判定圖表示
    3.4 二叉判定圖的運(yùn)算
        3.4.1 二叉判定圖的迭代運(yùn)算
    3.5 二叉判定圖的變量排序
        3.5.1 變量排序?qū)Χ媾卸▓D的影響
        3.5.2 深度優(yōu)先BDD 構(gòu)造算法
        3.5.3 動(dòng)態(tài)變量排序
    3.6 本章小結(jié)
4 基于BDD 的組合電路等價(jià)性驗(yàn)證
    4.1 隨機(jī)仿真
    4.2 基于替代的結(jié)構(gòu)性驗(yàn)證方法
    4.3 割集和局部BDD 技術(shù)
    4.4 建議的算法和實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析
    4.5 本章小結(jié)
5 基于BDD 的時(shí)序電路等價(jià)性驗(yàn)證
    5.1 基于狀態(tài)遍歷的時(shí)序等價(jià)性驗(yàn)證
    5.2 時(shí)序電路隨機(jī)仿真
    5.3 時(shí)序電路結(jié)構(gòu)相似性技術(shù)
    5.4 建議算法的驗(yàn)證流程
    5.5 建議算法實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析
    5.6 本章小結(jié)
6 工作總結(jié)與展望
    6.1 工作總結(jié)
    6.2 工作展望
參考文獻(xiàn)
在學(xué)研究成果
致謝



本文編號(hào)：3851115