“TECHNART 2015—藝術(shù)及文化遺產(chǎn)領(lǐng)域的無損和顯微分析技術(shù)”國際會議通知
發(fā)布時間:2018-03-11 13:29
本文選題:顯微分析 切入點(diǎn):卡塔尼亞 出處:《文物保護(hù)與考古科學(xué)》2014年04期 論文類型:期刊論文
【摘要】:正本會議旨在交流和促進(jìn)文化遺產(chǎn)領(lǐng)域中分析光譜技術(shù)的應(yīng)用,由LNS-INFN(意大利國家核物理研究院南方實(shí)驗(yàn)室),IBAM-CNR(意大利考古與古建筑研究所),卡塔尼亞大學(xué)化學(xué)系與ICOM-CC科研組、AIAr(意大利科技考古協(xié)會)聯(lián)合舉辦。會議時間:2015年4月27日至30日會議地點(diǎn):在意大利卡塔尼亞意大利國家核物理研究院南方實(shí)驗(yàn)室(LNS-INFN)主要議題包括:X射線顯微分析儀(XRF,PIXE,XRD,SEM-EDX);共聚焦顯微鏡(3D Micro-XRF,
[Abstract]:The Conference aims to exchange and promote the application of analytical spectral technology in the field of cultural heritage, Jointly organized by LNS-INFN (Southern Laboratory of the National Institute of Nuclear Physics, Italy) IBAM-CNR (Italian Institute of Archaeology and Ancient Architecture, Department of Chemistry, University of Catania, and ICOM-CC Scientific and technological Archaeology Group, Italian Association of Scientific and technological Archaeology). Meeting time: April 2015. Venue of the meeting from 27th to 30th: LNS-INFN at the Southern Laboratory of the Italian National Institute of Nuclear Physics, Catania, Italy. The main topics include: XRFX PIXEX XRDX SEM-EDXX; confocal microscope; 3D Micro-XRFs;
【作者單位】: 《文物保護(hù)與考古科學(xué)》編輯部;
【分類號】:+
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本文編號:1598377
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