設(shè)計了一款硅漂移探測器（Silicon Drift Detector,SDD）信號模擬器用于測試SDD讀出電子學(xué)的性能。該信號模擬器采用現(xiàn)場可編程門陣列（Field Programmable Gate Array,FPGA）作為核心器件,利用其豐富的可編程邏輯資源產(chǎn)生多組振蕩環(huán),將其輸出相異或生成均勻分布的真隨機(jī)數(shù)。首先通過伯努利試驗(yàn)將均勻分布的隨機(jī)數(shù)轉(zhuǎn)化為時間間隔服從指數(shù)分布的脈沖序列,然后對隨機(jī)數(shù)進(jìn)行了美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院（National Institute of Standards and Technology,NIST）隨機(jī)性測試,最后測試了信號模擬器輸出脈沖的時間間隔和計數(shù)率特性,結(jié)果表明:SDD信號模擬器的輸出脈沖時間間隔服從指數(shù)分布、輸出計數(shù)率范圍為1.6～813.8 ks^-1、輸出脈沖的電壓范圍為2.5～50 mV、脈沖最小時間間隔為9.6 ns,并且可長時間穩(wěn)定工作。 

【文章來源】：核技術(shù). 2020,43(08)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】：6 頁

【文章目錄】：
1 需求分析
2 總體設(shè)計框架
    2.1 均勻分布真隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生
    2.2 指數(shù)分布隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生
    2.3 波形產(chǎn)生
3 性能測試與結(jié)果分析
    3.1 時間間隔譜測試
    3.2 計數(shù)率測試
    3.3 穩(wěn)定性測試
4 結(jié)語


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]Readout electronics for a high-resolution soft X-ray spectrometer based on silicon drift detector[J]. Er-Lei Chen,Chang-Qing Feng,Shu-Bin Liu,Chun-Feng Ye,Dong-Dong Jin,Jian Lian,Hui-Jun Hu.  Nuclear Science and Techniques. 2017(01)
[2]真隨機(jī)脈沖X射線CCD信號發(fā)生器[J]. 霍嘉,徐玉朋,陳勇,崔葦葦,李煒,張子良,韓大煒,王于仨,王娟.  核電子學(xué)與探測技術(shù). 2011(02)
[3]一種基于FPGA的真隨機(jī)數(shù)生成器的設(shè)計[J]. 霍文捷,劉政林,陳毅成,鄒雪城.  華中科技大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版). 2009(01)



本文編號：3449047