基于FPGA的CZT核探測(cè)器的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
發(fā)布時(shí)間:2021-10-20 20:37
隨著半導(dǎo)體制作工藝的技術(shù)的不斷發(fā)展,碲鋅鎘(CdZnTe)材料的制作工藝的逐步成熟,CZT材料具備優(yōu)越于其他核探測(cè)器的許多性能凸顯出來(lái),使得采用CZT材料制作成理想的高分辨率核探測(cè)器變成可能。在室溫核探測(cè)領(lǐng)域特別是在對(duì)高能射線探測(cè)的領(lǐng)域,CZT核探測(cè)器是最近一二十年研究的熱點(diǎn)。對(duì)CZT核探測(cè)器的研究主要是在:對(duì)CZT材料生長(zhǎng)的研究、對(duì)CZT電極的研究和對(duì)CZT讀出電路系統(tǒng)的研究。本文初步研究了CZT核探測(cè)器的讀出系統(tǒng),主要分兩個(gè)部分:前端模擬電路部分以及數(shù)字能譜處理部分。在模擬電路部分本文首先分析、研究了電荷靈敏前置放大器。對(duì)國(guó)內(nèi)常采用的分離器件的電荷靈敏前置放大器進(jìn)行了簡(jiǎn)單的理論分析和電路仿真。針對(duì)高壓和偏置電阻上的噪聲,設(shè)計(jì)并提出了兩種消除電源噪聲以及偏置電阻熱噪聲的電路,并對(duì)其進(jìn)行了仿真與實(shí)驗(yàn)測(cè)試。然后,對(duì)信號(hào)調(diào)理電路各個(gè)部分進(jìn)行了理論分析、電路設(shè)計(jì)、電路仿真以及簡(jiǎn)單的實(shí)驗(yàn)測(cè)試,主要包括極零相消、高斯成型以及基線恢復(fù)電路。針對(duì)各電路模塊出現(xiàn)的問題提出了一些解決措施。本文采用的電路仿真軟件是ORCAD Capture和NI公司的仿真軟件Multisim10.1。最后,制作了模擬部分...
【文章來(lái)源】:重慶大學(xué)重慶市 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校
【文章頁(yè)數(shù)】:97 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
ABSTRACT
1 緒論
1.1 課題研究的背景
1.2 CZT 探測(cè)器的國(guó)內(nèi)外現(xiàn)狀
1.2.1 CZT 材料方面
1.2.2 探測(cè)器應(yīng)用方面
1.2.3 國(guó)外 CZT 陣列探測(cè)器現(xiàn)狀
1.2.4 國(guó)內(nèi) CZT 探測(cè)器現(xiàn)狀
1.2.5 CZT 讀出電路的現(xiàn)狀
1.3 課題的學(xué)術(shù)和實(shí)際意義
1.4 本文所作的主要工作以及本文的結(jié)構(gòu)
2 CZT 探測(cè)理論以及電路的總體框架設(shè)計(jì)
2.1 CZT 探測(cè)器理論
2.1.1 探測(cè)器種類及 CZT 探測(cè)原理
2.1.2 探測(cè)器系統(tǒng)的分辨率
2.2 電路的總體框圖設(shè)計(jì)
3 電荷靈敏前置放大器的設(shè)計(jì)
3.1 電荷靈敏前置放大器的種類
3.2 電荷靈敏前置放大器的原理及噪聲分析
3.3 電荷靈敏前置放大器的仿真與平均計(jì)數(shù)率的分析
3.4 電荷靈敏前置放大器的設(shè)計(jì)
3.4.1 消除電源噪聲的差分設(shè)計(jì)
3.4.2 JFET 輸入形式的差分設(shè)計(jì)
3.4.3 像素探測(cè)器的電荷靈敏前置放大器的選擇
3.5 本章小結(jié)
4 核脈沖信號(hào)調(diào)理電路設(shè)計(jì)、仿真及測(cè)試
4.1 極零相消電路
4.2 S-K 高斯成型電路設(shè)計(jì)
4.2.1 S-K 高斯成型電路的原理及仿真
4.2.2 高斯成型電路的實(shí)驗(yàn)測(cè)試
4.3 基線恢復(fù)電路
4.3.1 有源 CD 基線恢復(fù)器
4.3.2 CDD 基線恢復(fù)器
4.3.3 Quasi-ideal 基線恢復(fù)器
4.3.4 反饋式基線恢復(fù)器
4.4 本章小結(jié)
5 模擬前端仿真及實(shí)驗(yàn)測(cè)試
5.1 模擬前端仿真
5.2 實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證
5.3 本章小結(jié)
6 多道幅度分析儀模塊設(shè)計(jì)
6.1 峰值檢測(cè)電路
6.1.1 峰值檢測(cè)電路原理
6.1.2 峰值檢測(cè)仿真
6.2 甄別電路硬件設(shè)計(jì)與仿真
6.3 A/D 模數(shù)轉(zhuǎn)換器的選擇
6.4 多道脈沖幅度分析儀系統(tǒng)的軟件設(shè)計(jì)
6.4.1 軟件系統(tǒng)功能模塊的劃分
6.4.2 甄別信號(hào)控制模塊軟件設(shè)計(jì)
6.4.3 A/D 及峰值檢測(cè)模塊軟件設(shè)計(jì)
6.4.4 存儲(chǔ)器 RAM 讀寫控制以及自增一模塊
6.4.5 存儲(chǔ)器 RAM 讀出數(shù)據(jù)模塊
6.4.6 RAM 選擇控制模塊
6.4.7 并串轉(zhuǎn)換模塊以及數(shù)據(jù)輸出控制模塊
6.4.8 串口 RS232 的發(fā)送模塊
6.4.9 多道幅度分析儀軟件系統(tǒng)仿真結(jié)果
6.5 本章小結(jié)
7 總結(jié)與展望
致謝
參考文獻(xiàn)
附錄
A. 作者在攻讀學(xué)位期間發(fā)表的論文
B. 多道模塊的部分源程序
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]信號(hào)采集中峰值檢測(cè)電路的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[J]. 郭宗平,王厚軍,戴志堅(jiān). 中國(guó)測(cè)試. 2011(03)
[2]室溫核輻射CdZnTe像素探測(cè)器的研制[J]. 郭榕榕,介萬(wàn)奇,查鋼強(qiáng),王濤,徐亞東,郭慶真. 光電子.激光. 2011(05)
[3]基于CZT探測(cè)器的SPRD采集系統(tǒng)研究[J]. 王一鳴,魏義祥. 核電子學(xué)與探測(cè)技術(shù). 2011(03)
[4]基于FPGA的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[J]. 劉春雅,程旭,趙輝昌. 電子設(shè)計(jì)工程. 2011(01)
[5]基于USB2.0新型分時(shí)多道脈沖幅度分析系統(tǒng)研制[J]. 蔣連軍,梁飛,唐世彪,梁平,晏驥,陰澤杰. 核電子學(xué)與探測(cè)技術(shù). 2010(06)
[6]基于CdZnTe晶體的2×2像素陣列探測(cè)器研究[J]. 王璽,肖沙里,張流強(qiáng),陳宇曉,曹玉琳,黎淼,沈敏,蔡欣,蔣建. 光電子.激光. 2010(05)
[7]CdZnTe探測(cè)器γ射線響應(yīng)及穩(wěn)定性研究[J]. 徐亞東,介萬(wàn)奇,何亦輝,查鋼強(qiáng),王濤,王軍. 光電子.激光. 2010(03)
[8]FPGA在峰值檢測(cè)中的應(yīng)用[J]. 廖祖禹,黃建國(guó),戴志堅(jiān). 測(cè)控技術(shù). 2010(01)
[9]背散射成像系統(tǒng)的甄別級(jí)CZT探測(cè)器特性研究與應(yīng)用[J]. 郝魁紅,李炎鈞,趙林,王化祥,丁洪林. 核技術(shù). 2009(10)
[10]基于FPGA技術(shù)的多道能譜儀數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的設(shè)計(jì)[J]. 王秀琴. 分析儀器. 2009(03)
本文編號(hào):3447563
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【文章頁(yè)數(shù)】:97 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
ABSTRACT
1 緒論
1.1 課題研究的背景
1.2 CZT 探測(cè)器的國(guó)內(nèi)外現(xiàn)狀
1.2.1 CZT 材料方面
1.2.2 探測(cè)器應(yīng)用方面
1.2.3 國(guó)外 CZT 陣列探測(cè)器現(xiàn)狀
1.2.4 國(guó)內(nèi) CZT 探測(cè)器現(xiàn)狀
1.2.5 CZT 讀出電路的現(xiàn)狀
1.3 課題的學(xué)術(shù)和實(shí)際意義
1.4 本文所作的主要工作以及本文的結(jié)構(gòu)
2 CZT 探測(cè)理論以及電路的總體框架設(shè)計(jì)
2.1 CZT 探測(cè)器理論
2.1.1 探測(cè)器種類及 CZT 探測(cè)原理
2.1.2 探測(cè)器系統(tǒng)的分辨率
2.2 電路的總體框圖設(shè)計(jì)
3 電荷靈敏前置放大器的設(shè)計(jì)
3.1 電荷靈敏前置放大器的種類
3.2 電荷靈敏前置放大器的原理及噪聲分析
3.3 電荷靈敏前置放大器的仿真與平均計(jì)數(shù)率的分析
3.4 電荷靈敏前置放大器的設(shè)計(jì)
3.4.1 消除電源噪聲的差分設(shè)計(jì)
3.4.2 JFET 輸入形式的差分設(shè)計(jì)
3.4.3 像素探測(cè)器的電荷靈敏前置放大器的選擇
3.5 本章小結(jié)
4 核脈沖信號(hào)調(diào)理電路設(shè)計(jì)、仿真及測(cè)試
4.1 極零相消電路
4.2 S-K 高斯成型電路設(shè)計(jì)
4.2.1 S-K 高斯成型電路的原理及仿真
4.2.2 高斯成型電路的實(shí)驗(yàn)測(cè)試
4.3 基線恢復(fù)電路
4.3.1 有源 CD 基線恢復(fù)器
4.3.2 CDD 基線恢復(fù)器
4.3.3 Quasi-ideal 基線恢復(fù)器
4.3.4 反饋式基線恢復(fù)器
4.4 本章小結(jié)
5 模擬前端仿真及實(shí)驗(yàn)測(cè)試
5.1 模擬前端仿真
5.2 實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證
5.3 本章小結(jié)
6 多道幅度分析儀模塊設(shè)計(jì)
6.1 峰值檢測(cè)電路
6.1.1 峰值檢測(cè)電路原理
6.1.2 峰值檢測(cè)仿真
6.2 甄別電路硬件設(shè)計(jì)與仿真
6.3 A/D 模數(shù)轉(zhuǎn)換器的選擇
6.4 多道脈沖幅度分析儀系統(tǒng)的軟件設(shè)計(jì)
6.4.1 軟件系統(tǒng)功能模塊的劃分
6.4.2 甄別信號(hào)控制模塊軟件設(shè)計(jì)
6.4.3 A/D 及峰值檢測(cè)模塊軟件設(shè)計(jì)
6.4.4 存儲(chǔ)器 RAM 讀寫控制以及自增一模塊
6.4.5 存儲(chǔ)器 RAM 讀出數(shù)據(jù)模塊
6.4.6 RAM 選擇控制模塊
6.4.7 并串轉(zhuǎn)換模塊以及數(shù)據(jù)輸出控制模塊
6.4.8 串口 RS232 的發(fā)送模塊
6.4.9 多道幅度分析儀軟件系統(tǒng)仿真結(jié)果
6.5 本章小結(jié)
7 總結(jié)與展望
致謝
參考文獻(xiàn)
附錄
A. 作者在攻讀學(xué)位期間發(fā)表的論文
B. 多道模塊的部分源程序
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]信號(hào)采集中峰值檢測(cè)電路的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[J]. 郭宗平,王厚軍,戴志堅(jiān). 中國(guó)測(cè)試. 2011(03)
[2]室溫核輻射CdZnTe像素探測(cè)器的研制[J]. 郭榕榕,介萬(wàn)奇,查鋼強(qiáng),王濤,徐亞東,郭慶真. 光電子.激光. 2011(05)
[3]基于CZT探測(cè)器的SPRD采集系統(tǒng)研究[J]. 王一鳴,魏義祥. 核電子學(xué)與探測(cè)技術(shù). 2011(03)
[4]基于FPGA的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[J]. 劉春雅,程旭,趙輝昌. 電子設(shè)計(jì)工程. 2011(01)
[5]基于USB2.0新型分時(shí)多道脈沖幅度分析系統(tǒng)研制[J]. 蔣連軍,梁飛,唐世彪,梁平,晏驥,陰澤杰. 核電子學(xué)與探測(cè)技術(shù). 2010(06)
[6]基于CdZnTe晶體的2×2像素陣列探測(cè)器研究[J]. 王璽,肖沙里,張流強(qiáng),陳宇曉,曹玉琳,黎淼,沈敏,蔡欣,蔣建. 光電子.激光. 2010(05)
[7]CdZnTe探測(cè)器γ射線響應(yīng)及穩(wěn)定性研究[J]. 徐亞東,介萬(wàn)奇,何亦輝,查鋼強(qiáng),王濤,王軍. 光電子.激光. 2010(03)
[8]FPGA在峰值檢測(cè)中的應(yīng)用[J]. 廖祖禹,黃建國(guó),戴志堅(jiān). 測(cè)控技術(shù). 2010(01)
[9]背散射成像系統(tǒng)的甄別級(jí)CZT探測(cè)器特性研究與應(yīng)用[J]. 郝魁紅,李炎鈞,趙林,王化祥,丁洪林. 核技術(shù). 2009(10)
[10]基于FPGA技術(shù)的多道能譜儀數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的設(shè)計(jì)[J]. 王秀琴. 分析儀器. 2009(03)
本文編號(hào):3447563
本文鏈接:http://sikaile.net/projectlw/hkxlw/3447563.html
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