為了維持穩(wěn)態(tài)高約束的托卡馬克運行并且減小成本,必須增加非感應(yīng)電流的部分,提高自舉電流的比例。本文使用LSC和JSOLVER代碼耦合計算模擬EAST裝置上LHCD作為唯一輔助加熱源,H模放電時自舉電流。由于歸一化beta值比較小,得到H模時自舉電流的比例較小,不超過10%。且不同低雜波功率、等離子體溫度密度參數(shù),對H模時的自舉電流的比例和分布影響不大。但是邊緣處自舉電流占總電流的比例較大,達(dá)到30%以上,這種大的自舉電流會激發(fā)邊緣區(qū)Peeling-balloon模不穩(wěn)定。本文自主開發(fā)程序,通過數(shù)值模擬和理論分析,研究了H模時“臺基”區(qū)自舉電流與Peeling-balloon模不穩(wěn)定性理論的關(guān)系。通過EAST裝置上兩炮典型放電,得到在邊緣區(qū)域安全因子等于4左右的H模放電時,不會出現(xiàn)Peeling-balloon模不穩(wěn)定現(xiàn)象。在安全因子等于5左右的H模放電時,在邊緣區(qū)域會出現(xiàn)Peeling-balloon模不穩(wěn)定現(xiàn)象。通過模擬對聚變裝置的實驗運行具有一定的指導(dǎo)意義和參考價值。 

【文章來源】：華東理工大學(xué)上海市 211工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：47 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
Abstract
第一章 引言
    1.1 概述
    1.2 自舉電流理論和實驗發(fā)展
        1.2.1 自舉電流理論
        1.2.2 實驗發(fā)展
    1.3 H模的理論和實驗發(fā)展
        1.3.1 H模理論
        1.3.2 實驗發(fā)展
    1.4 H模時自舉電流實驗發(fā)展
    1.5 本文研究的內(nèi)容、方法及意義
    1.6 論文結(jié)構(gòu)安排
第二章 自舉電流及PEELING-BALLOON模模型
    2.1 自舉電流模型
    2.2 PEELING-BALLOON模模型
第三章 計算程序簡介與開發(fā)
    3.1 計算自舉電流程序介紹
        3.1.1 本文的修改
        3.1.2 運行流程介紹
    3.2 計算PEELING-BALLOON模不穩(wěn)定性程序介紹
        3.2.1 模型的數(shù)值解法
        3.2.2 模型流程圖
第四章 數(shù)值模擬結(jié)果
    4.1 EAST裝置上典型H模放電
    4.2 等離子體參數(shù)對H模時自舉電流的影響
    4.3 低雜波對H模自舉電流的影響
    4.4 H模時自舉電流與PEELING-BALLOON模的關(guān)系
    4.5 EAST裝置H模時PEELING-BALLOON模不穩(wěn)定性現(xiàn)象
第五章 討論和總結(jié)
參考文獻(xiàn)
致謝
附錄



本文編號：3435730