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用于高計數(shù)率中子檢測的模擬前端的設(shè)計

發(fā)布時間:2021-05-10 20:23
  針對具有1 nF傳感電容和5μA平均幅度的隨機電流脈沖的核探測器,設(shè)計了一種基于跨阻放大器(TIA)的模擬前端.核心放大器采用單端折疊共源共柵結(jié)構(gòu)提高帶寬和速度,采用增益增強(gain-boosted)技術(shù)以滿足高增益的要求.模擬前端基于SMIC 40 nm CMOS工藝設(shè)計實現(xiàn),仿真結(jié)果表明,核心放大器在電源電壓1.1 V下,增益帶寬積為2.2 GHz,增益為72.3 dB,模擬前端在閉環(huán)增益為500Ω和1 nF傳感電容時,可以實現(xiàn)22 MHz的閉環(huán)帶寬,模擬前端的總功耗為3.2 mW. 

【文章來源】:微電子學與計算機. 2020,37(12)北大核心

【文章頁數(shù)】:5 頁

【文章目錄】:
1 引言
2 模擬前端電路結(jié)構(gòu)
3 放大器電路原理
    3.1 核心放大器電路圖
    3.2 噪聲分析
4 仿真測試結(jié)果
5 結(jié)束語



本文編號:3180002

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