帶電粒子在固體中的輸運(yùn)及輻照損傷建模研究
【學(xué)位授予單位】:哈爾濱工程大學(xué)
【學(xué)位級別】:博士
【學(xué)位授予年份】:2017
【分類號】:TM623
【圖文】:
烯和碳納米管的離位截面計(jì)算等。這一章是第二章輻照損傷理論和第四章電子散射截面理論的綜合應(yīng)用。第七章介紹了薄層介質(zhì)中電子輻照損傷的估算。主要內(nèi)容包括電子在薄層介質(zhì)中的能量沉積、核阻止本領(lǐng)的計(jì)算、基于離位截面進(jìn)行薄層中電子輻照損傷的計(jì)算、基于平均量的薄層中電子輻照損傷的計(jì)算方法、使用多重散射理論對電子實(shí)際路徑的修正等,給出了 PKA 能譜、電子輻照損傷空間分布等結(jié)果。這一章是第四章中電子輻照損傷模擬過程的具體應(yīng)用。第八章介紹了帶電粒子在鐵介質(zhì)中輻照損傷演化的多尺度建模過程。主要內(nèi)容包括不同種類粒子輻照損傷的差異和等效、KMC工具 MMonca 對不同缺陷的分類和建模、鐵中缺陷演化動(dòng)力學(xué)參數(shù)等,給出了電子、輕離子(H,He)和重離子(Fe、Kr)在鐵中產(chǎn)生輻照損傷的情況和演化的情況。這一章是第二章、第三章和第四章所介紹理論的綜合應(yīng)用。論文章節(jié)之間的邏輯關(guān)系如圖 1.1 所示。
隨著離位方向的變化,離位閾能差別非常的可以到 100eV 以上。離位閾能越大,說明要從該對于大多數(shù)金屬,其微觀結(jié)構(gòu)為多晶結(jié)構(gòu)。這種每個(gè)微小晶體的取向是隨機(jī)的。在這種材料里面,使用平均離位閾能更有實(shí)際意義。STEM E521 標(biāo)準(zhǔn)推薦的常用金屬的最小離位閾能和平均屬Edmin(eV) Ed(eV) 16 25 19 30—40 28*40—40 20*40 22 40 23 40管中離位閾能隨離位方向在空間的變化(出自 A. Zobelllacement energy vary with the displacing direction in carbo(A. Zobelli, 2007)
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本文編號:2725792
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