溫度測(cè)量廣泛應(yīng)用于能源、冶金、新材料、電子技術(shù)、衛(wèi)生醫(yī)療、國防、航空航天等領(lǐng)域。為了保證在不同地區(qū)、不同場(chǎng)合下測(cè)量相同溫度時(shí)具有相同量值的標(biāo)尺,提出了溫標(biāo)的概念�，F(xiàn)行的國際溫標(biāo)為ITS-90國際溫標(biāo),而標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)作為90國際溫標(biāo)的標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)插儀器,在溫度量值的溯源傳遞和高精度測(cè)量中扮演著不可替代的作用。影響鉑電阻溫度計(jì)的主要因素有鉑絲氧化、鉑絲雜質(zhì)、鉑絲的晶體結(jié)構(gòu)以及鉑絲應(yīng)力等影響因素,其中鉑絲的氧化特性和晶體結(jié)構(gòu)是最為主要的兩個(gè)影響因素。因此,研究鉑絲的氧化特性以及因高溫加熱氧化引起的晶粒尺寸的變化,對(duì)于研究標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì),保證溫度量值準(zhǔn)確有效地傳遞,提高溫度測(cè)量的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性具有非常重要的意義。本文以PtO₂粉末、高純鉑片和兩支可改變內(nèi)部氣壓的標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)為研究對(duì)象,通過差示量熱掃描裝置(DSC)和X射線光電子能譜技術(shù)(XPS)研究PtO₂在不同溫度下的生成和分解產(chǎn)物、高純鉑片的氧化產(chǎn)物,并使用高精度測(cè)溫電橋研究鉑電阻溫度計(jì)(SPRT)因其內(nèi)部鉑絲氧化帶來的測(cè)量誤差,從微觀層面分析研究鉑絲在不同溫度下的氧化特性及其對(duì)SPRT的影...

【文章頁數(shù)】：76 頁

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
ABSTRACT
第一章 緒論
    1.1 引言
    1.2 研究背景
    1.3 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀
        1.3.1 加拿大國家研究委員會(huì)
        1.3.2 日本國家計(jì)量院
        1.3.3 其他研究
    1.4 主要研究內(nèi)容和技術(shù)路線
第二章 實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)和研究方法
    2.1 鉑電阻溫度計(jì)充氣系統(tǒng)
    2.2 鉑電阻溫度電阻測(cè)量系統(tǒng)
    2.3 熱流測(cè)量法
    2.4 樣品元素檢測(cè)
        2.4.1 樣品元素種類的確定
        2.4.2 鉑的氧化物組成確定
第三章 PtO₂的分解實(shí)驗(yàn)
    3.1 單質(zhì)鉑的主要氧化過程
    3.2 PtO₂粉末的實(shí)驗(yàn)過程
        3.2.1 Pt、Pt O、Pt O₂的電子能譜分析
        3.2.2 DSC熱流曲線
        3.2.3 PtO₂中H₂O的存在
        3.2.4 PtO₂的分解溫度
        3.2.5 PtO的分解溫度
    3.3 本章小結(jié)
第四章 鉑片的氧化實(shí)驗(yàn)
    4.1 鉑片表面污染物評(píng)估
    4.2 表面初始氧化層的去除
        4.2.1 鉑片表面氧化層分解原理
        4.2.2 實(shí)驗(yàn)過程與結(jié)果分析
    4.3 鉑片的氧化實(shí)驗(yàn)
        4.3.1 高溫氧化原理
        4.3.2 實(shí)驗(yàn)過程及結(jié)果分析
    4.4 本章小結(jié)
第五章 鉑電阻溫度計(jì)的氧化實(shí)驗(yàn)
    5.1 SPRT的退火實(shí)驗(yàn)
    5.2 氧化層厚度評(píng)估及其SPRT的影響
        5.2.1 氧化模型的建立
        5.2.2 氧化層對(duì)電阻的影響
    5.3 本章小結(jié)
第六章 晶粒尺寸對(duì)鉑絲電阻率的影響
    6.1 用于晶粒觀測(cè)的樣片制備和電阻測(cè)量法
        6.1.1 晶粒樣片制備
        6.1.2 電阻的測(cè)量
    6.2 粒徑分布與電阻關(guān)系
    6.3 本章小結(jié)
第七章 結(jié)論和展望
    7.1 研究結(jié)論
    7.2 工作展望
參考文獻(xiàn)
致謝
攻讀碩士學(xué)位期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文



本文編號(hào)：3744543