本文關(guān)鍵詞：TFT-LCD殘影不良的研究與改善

  更多相關(guān)文章： 殘影 扭曲向列型 配向弱區(qū) 內(nèi)部電場

【摘要】：影像殘留是TFT-LCD,特別是TN型產(chǎn)品常見的不良,對產(chǎn)品良率影響很大。本文從產(chǎn)品設(shè)計、工藝參數(shù)、工藝管控3個方面對殘影進行分析。發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計時Data線兩側(cè)段差過大,是導(dǎo)致殘影發(fā)生的主要原因,通過增加配向膜厚度和摩擦強度值可以有效降低殘影,實驗得出配向膜膜厚高于110nm,摩擦強度高于5.5N·m時無殘影發(fā)生。通過控制配向膜工程與摩擦工程間的延遲時間在5h,摩擦工程與對盒工程間的延遲時間在10h,并且嚴(yán)格管控ITO偏移量可以有效減少Panel內(nèi)部電場,從而降低殘影。通過以上措施,對于15.6HD產(chǎn)品,良率提升了10%,為企業(yè)高效生產(chǎn)奠定基礎(chǔ)。
【作者單位】： 合肥鑫晟光電科技有限公司;
【關(guān)鍵詞】： 殘影 扭曲向列型 配向弱區(qū) 內(nèi)部電場
【分類號】：TN873.93
【正文快照】： (Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co.Ltd,Hefei 230012,China)1引言伴隨著顯示科技的發(fā)展,液晶顯示器(LCD)以其低工作電壓、低功耗、低輻射、以及輕薄美觀等優(yōu)勢,為大眾所喜愛,已成為市場的主流[1-2]。隨著人們對液晶顯示器認(rèn)知度的逐漸提高,對于顯示性能也提出了，

本文編號：890727