發(fā)布時間：2017-09-15 19:33

  本文關鍵詞：天線輻射性能并行測試場研究

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【摘要】：常規(guī)的解決多天線輻射性能批量測量問題采用的是一個天線測量暗室進行分時段測量或者使用多個暗室進行測量的方法。上述方法存在著測量效率低以及測量試驗自動化程度低等問題,同時由于天線電磁解算難以通過解析表達,使得天線量化分析比較困難。為解決上述問題,提出對多發(fā)射源以及配套的天線測量機構進行空域組合的試驗方案,難點在于如何建立精準的多天線輻射性能測試場電磁模型并且分析多發(fā)射源結構之間的互耦影響以及對被測天線在同時工作情況下指向發(fā)生變化時它們之間可能會出現(xiàn)的耦合影響等關鍵問題進行研究進而論證方案可行性。對所建立的天線測試場模型進行仿真計算。仿真結果表明,新建立的天線測試場模型中各發(fā)射源位置選擇恰當,結構間耦合影響滿足環(huán)境指標要求,解決了多天線批量遠場測試問題,能夠為多天線輻射性能并行測量提供參考。
【作者單位】： 北京控制與電子技術研究所;中國航天科工二院;
【關鍵詞】： 天線測量暗室 多天線輻射性能 天線測試場 互耦
【分類號】：TN820
【正文快照】： _ 1 U胃 工程中對天線輻射性能的測量通常是在射頻微波暗室中進行,目前國內外解決工程多天線方向圖批量測試問題采用的是使用一個暗室進行分時段測量或者使用多個暗室進行測量的方法,比如文獻[7]通過建立單個縮比暗室模型對天線輻射性能進行分析,文獻[8]中通過建立分布式天線

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本文編號：858474