基于超導(dǎo)HEB的太赫茲信號(hào)檢測(cè)
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更多相關(guān)文章: 太赫茲?rùn)z測(cè)技術(shù) 熱電子測(cè)輻射熱計(jì) 直接檢測(cè)器 傅里葉變換光譜儀
【摘要】:太赫茲(THZ)檢測(cè)技術(shù)可分為外差(相干)檢測(cè)和直接(非相干)檢測(cè),不同的檢測(cè)技術(shù)所采用的檢測(cè)器也并不相同;但其實(shí)除了一些響應(yīng)時(shí)間較長(zhǎng)的熱檢測(cè)器,很多檢測(cè)器既可以用作外差檢測(cè)也可以用作直接檢測(cè),超導(dǎo)熱電子測(cè)輻射熱計(jì)(HEB)就是其中一種。當(dāng)超導(dǎo)HEB器件工作在其臨界溫度TC附近時(shí),溫度的微小變化就可以引起器件阻值很大變化,即工作在TC附近的器件可通過其阻值變化來測(cè)量所受到的THz源輻射的強(qiáng)度,基于這一特性超導(dǎo)HEB器件可用作直接檢測(cè)。本文介紹了一種通過注入微波來驅(qū)動(dòng)超導(dǎo)HEB器件實(shí)現(xiàn)太赫茲直接檢測(cè)的方法,并且搭建了一套基于超導(dǎo)NbN HEB的太赫茲直接檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)采用易調(diào)控的微波來驅(qū)動(dòng)超導(dǎo)NbN HEB芯片,通過給超導(dǎo)NbN HEB加上合適的微波信號(hào)(頻率為1.5 GHz、功率為-16.52 dBm)和直流偏置(偏置電壓為0.25 mV、偏置電流為12μA),使其偏置在最佳工作點(diǎn)來進(jìn)行太赫茲信號(hào)的直接檢測(cè)。測(cè)得該系統(tǒng)的最佳噪聲等效功率為8×10-12 W(?)Hz,且系統(tǒng)響應(yīng)與入射信號(hào)的功率始終線性相關(guān)。此外,本文利用該超導(dǎo)NbN HEB直接檢測(cè)系統(tǒng)結(jié)合自行開發(fā)的傅里葉變換光譜儀(FTS)實(shí)現(xiàn)了一套太赫茲信號(hào)的快速直接檢測(cè)系統(tǒng);將該直接檢測(cè)系統(tǒng)應(yīng)用于金屬網(wǎng)格濾波器頻率特性和THz量子級(jí)聯(lián)激光器(QCL)脈沖模式下的輻射譜的測(cè)量,同時(shí)還使用商用常溫高萊(Golay)檢測(cè)器和低溫半導(dǎo)體測(cè)輻射熱計(jì)檢測(cè)器與其進(jìn)行對(duì)比實(shí)驗(yàn),測(cè)量結(jié)果表明我們初步構(gòu)建的基于超導(dǎo)NbN HEB直接檢測(cè)器的系統(tǒng)已具有高于Golay檢測(cè)器、并與商用Bolometer檢測(cè)器同等的性能,且響應(yīng)速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)快于這兩種商用檢測(cè)器。
【關(guān)鍵詞】:太赫茲?rùn)z測(cè)技術(shù) 熱電子測(cè)輻射熱計(jì) 直接檢測(cè)器 傅里葉變換光譜儀
【學(xué)位授予單位】:南京大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號(hào)】:TN911.23
【目錄】:
- 摘要3-4
- ABSTRACT4-8
- 第1章 前言8-15
- 1.1 太赫茲波簡(jiǎn)介及其應(yīng)用8-9
- 1.2 太赫茲?rùn)z測(cè)技術(shù)的發(fā)展與現(xiàn)狀9-13
- 1.2.1 太赫茲?rùn)z測(cè)技術(shù)的分類9-10
- 1.2.2 幾種常用的檢測(cè)器10-13
- 1.3 論文結(jié)構(gòu)13-15
- 第2章 超導(dǎo)NbN HEB直接檢測(cè)系統(tǒng)15-27
- 2.1 NbN HEB器件的結(jié)構(gòu)與性能15-20
- 2.1.1 器件的結(jié)構(gòu)15-16
- 2.1.2 器件的熱電子效應(yīng)16
- 2.1.3 器件的性能16-20
- 2.2 超導(dǎo)NbN HEB直接檢測(cè)系統(tǒng)的搭建20-24
- 2.2.1 器件驅(qū)動(dòng)方式20-22
- 2.2.2 系統(tǒng)搭建22-24
- 2.3 超導(dǎo)NbN HEB直接檢測(cè)系統(tǒng)的性能24-27
- 2.3.1 最佳偏置點(diǎn)24-25
- 2.3.2 系統(tǒng)響應(yīng)特性25-27
- 第3章 傅里葉變換光譜儀27-40
- 3.1 原理27-28
- 3.2 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)28-32
- 3.2.1 斬波器30-31
- 3.2.2 光學(xué)反射鏡31
- 3.2.3 光束分離器31-32
- 3.2.4 動(dòng)鏡運(yùn)動(dòng)控制裝置32
- 3.3 系統(tǒng)性能指標(biāo)32-33
- 3.3.1 頻率范圍32-33
- 3.3.2 系統(tǒng)分辨率33
- 3.3.3 信噪比33
- 3.3.4 分析速度33
- 3.4 應(yīng)用33-40
- 3.4.1 測(cè)量檢測(cè)器的頻率響應(yīng)34-36
- 3.4.2 測(cè)量太赫茲源的發(fā)射譜36-37
- 3.4.3 測(cè)量一些材料的吸收譜37-40
- 第4章 基于NbN HEB的THz信號(hào)檢測(cè)40-48
- 4.1 金屬網(wǎng)格濾波器頻率特性的測(cè)量40-42
- 4.2 量子級(jí)聯(lián)激光器的輻射譜測(cè)量42-48
- 4.2.1 太赫茲量子級(jí)聯(lián)激光器的電光性能42-45
- 4.2.2 THz QCL輻射譜的測(cè)量45-48
- 第5章 總結(jié)與展望48-50
- 5.1 總結(jié)48
- 5.2 展望48-50
- 參考文獻(xiàn)50-54
- 致謝54-55
- 碩士期間研究成果55-56
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,本文編號(hào):840551
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