本文關(guān)鍵詞：基于MEMS開關(guān)的方向圖可重構(gòu)天線實驗研究

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【摘要】：本文通過實驗研究對MEMS開關(guān)供電線對方向圖可重構(gòu)天線方向圖的影響進(jìn)行了分析,并采用電磁帶隙(EBG)結(jié)構(gòu)對開關(guān)供電線的影響進(jìn)行了抑制,改善了基于MEMS開關(guān)方向圖可重構(gòu)天線的輻射圖形,驗證了前期工作理論工作的正確性。
【作者單位】： 中國工程物理研究院電子工程研究所;
【關(guān)鍵詞】： MEMS開關(guān) 供電線 可重構(gòu)天線
【分類號】：TN820
【正文快照】： 引言可重構(gòu)天線的特點是同一個天線或陣列通過動態(tài)改變其物理結(jié)構(gòu)或尺寸,使其具有多個天線的功能,可重構(gòu)天線相當(dāng)于多個天線共用一個物理口徑。文獻(xiàn)[1]中,研究了基于MEMS開關(guān)的功放的設(shè)計,但文中沒有研究MEMS開關(guān)供電線對射頻電路的影響。在本文研究的前期工作中,對基于MEMS開

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本文編號：826518