本文關(guān)鍵詞：雷達(dá)數(shù)字電路板故障診斷方法的研究

  更多相關(guān)文章： 自動測試系統(tǒng) 故障診斷 邊界掃描 故障樹分析 TPS開發(fā)

【摘要】：現(xiàn)代雷達(dá)作為在一種廣泛應(yīng)用的武器裝備,在軍事上被稱為作戰(zhàn)指揮者的“眼睛”,在國防領(lǐng)域發(fā)揮著重要的作用。伴隨微電子技術(shù)的不斷發(fā)展,雷達(dá)系統(tǒng)的功能和自動化程度不斷提升,但同時也導(dǎo)致雷達(dá)裝備復(fù)雜程度的增加,從而對雷達(dá)裝備的維修保障和測試提出更高的要求。而且由于數(shù)字電路具有集成度高、抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),雷達(dá)裝備中數(shù)字電路的占比也越來越大。因此,結(jié)合自動測試系統(tǒng)研究雷達(dá)數(shù)字電路板的故障診斷方法就顯得非常必要。本文在分析自動測試系統(tǒng)提供的相關(guān)資源的基礎(chǔ)上,對雷達(dá)數(shù)字電路板的故障診斷方法進(jìn)行研究,尤其是包含F(xiàn)PGA、DSP等大規(guī)模集成芯片的復(fù)雜數(shù)字電路板,提出了適用于本雷達(dá)電路板通用測試系統(tǒng)的診斷方案。主要工作和成果如下：1、熟悉自動測試系統(tǒng)提供的相關(guān)資源,完成自動測試系統(tǒng)軟件平臺底層5大類儀器功能庫的開發(fā)。同時,為了保證自動測試系統(tǒng)的通用性,本文還通過搭建相關(guān)測試環(huán)境對儀器功能庫的互換性進(jìn)行驗(yàn)證。2、搭建以ASSET公司研發(fā)的ScanWorks軟件為基礎(chǔ)的邊界掃描測試平臺。在某雷達(dá)數(shù)字電路板的測試中,運(yùn)用邊界掃描鏈路測試和互聯(lián)測試。針對實(shí)際應(yīng)用中邊界掃描器件與非邊界掃描器件共存的情況,設(shè)計(jì)基于腳本語言的Macro測試,擴(kuò)大了邊界掃描測試的覆蓋范圍。最終,基于用戶層面考慮,將邊界掃描功能以模塊的形式集成于雷達(dá)自動測試系統(tǒng)中,方便后續(xù)診斷流程的編寫。3、針對可測性較差的雷達(dá)數(shù)字電路板,引入故障樹分析方法。針對故障樹的定性、定量分析,基于Matlab平臺分別實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)故障樹分析方法和二元決策圖方法,為后續(xù)的診斷規(guī)則做鋪墊。最終,以某雷達(dá)串行I/O電路板為例,結(jié)合雷達(dá)電路板自動測試系統(tǒng),將故障樹分析應(yīng)用于診斷過程中,編寫相應(yīng)的測試程序集(TPS)。4、以某型雷達(dá)數(shù)據(jù)處理板為例,在分析該電路板結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,結(jié)合雷達(dá)電路板自動測試系統(tǒng),將故障樹分析和邊界掃描技術(shù)綜合應(yīng)用于故障診斷TPS開發(fā),同時驗(yàn)證了該方案的可行性。本文的最后,對上述的一系列工作進(jìn)行了總結(jié),提出一些存在的問題,并對未來的工作進(jìn)行了展望。
【關(guān)鍵詞】：自動測試系統(tǒng) 故障診斷 邊界掃描 故障樹分析 TPS開發(fā)
【學(xué)位授予單位】：東南大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號】：TN952
【目錄】：

• 摘要5-6
• Abstract6-10
• 第一章 緒論10-14
• 1.1 研究背景10-11
• 1.2 相關(guān)技術(shù)的發(fā)展11-12
• 1.2.1 自動測試系統(tǒng)的發(fā)展概況11
• 1.2.2 故障診斷的發(fā)展和趨勢11-12
• 1.3 論文研究內(nèi)容及章節(jié)安排12-14
• 第二章 雷達(dá)電路板通用測試系統(tǒng)14-26
• 2.1 自動測試系統(tǒng)概述14
• 2.2 雷達(dá)電路板通用測試系統(tǒng)硬件框架14-16
• 2.3 雷達(dá)電路板通用測試系統(tǒng)軟件框架16-19
• 2.3.1 自動測試系統(tǒng)的軟件功能16-18
• 2.3.2 軟件平臺測試流程18-19
• 2.4 軟件平臺儀器功能庫的設(shè)計(jì)與互換性驗(yàn)證19-22
• 2.4.1 軟件平臺儀器功能庫的設(shè)計(jì)19-21
• 2.4.2 軟件平臺儀器功能庫的互換性驗(yàn)證21-22
• 2.5 自動測試系統(tǒng)軟件平臺應(yīng)用舉例22-23
• 2.6 基于自動測試系統(tǒng)的雷達(dá)數(shù)字電路板的故障診斷方案23-25
• 2.7 本章小結(jié)25-26
• 第三章 邊界掃描在雷達(dá)數(shù)字電路故障診斷中的應(yīng)用26-42
• 3.1 邊界掃描技術(shù)原理與方法26-32
• 3.1.1 邊界掃描邏輯的基本結(jié)構(gòu)26-29
• 3.1.2 邊界掃描的測試類型29-32
• 3.2 邊界掃描在雷達(dá)數(shù)字電路故障診斷中的應(yīng)用32-41
• 3.2.1 邊界掃描測試系統(tǒng)硬件組成32-33
• 3.2.2 邊界掃描測試開發(fā)過程33-37
• 3.2.3 宏測試在數(shù)字電路板故障診斷中的應(yīng)用37-38
• 3.2.4 邊界掃描測試工具模塊化設(shè)計(jì)與系統(tǒng)集成38-40
• 3.2.5 邊界掃描在雷達(dá)電路板自動測試系統(tǒng)中的應(yīng)用40-41
• 3.3 本章小結(jié)41-42
• 第四章 基于故障樹分析的雷達(dá)數(shù)字電路故障診斷42-62
• 4.1 故障樹分析概述42-43
• 4.2 故障樹定性分析43-47
• 4.2.1 Semanderes算法43-44
• 4.2.2 Fussell-Vasely算法44-45
• 4.2.3 故障樹結(jié)構(gòu)編碼設(shè)計(jì)45-46
• 4.2.4 Fussell-Vasely算法的編程實(shí)現(xiàn)46-47
• 4.3 故障樹定量分析47-50
• 4.3.1 故障樹定量分析方法47-48
• 4.3.2 基于不交型積之和定理的定量分析實(shí)現(xiàn)48-50
• 4.4 BDD在故障樹分析中的應(yīng)用50-57
• 4.4.1 故障樹向BDD轉(zhuǎn)換的方法與實(shí)現(xiàn)50-54
• 4.4.2 故障樹基本事件排序54-55
• 4.4.3 基于BDD的故障樹定性分析與實(shí)現(xiàn)55-56
• 4.4.4 基于BDD的故障樹頂事件發(fā)生概率求取56
• 4.4.5 BDD方法與傳統(tǒng)故障樹分析方法的比較56-57
• 4.5 基于FTA的故障診斷順序57-58
• 4.6 FTA在雷達(dá)數(shù)字電路故障診斷中的應(yīng)用舉例58-60
• 4.7 本章小結(jié)60-62
• 第五章 雷達(dá)數(shù)據(jù)處理板故障診斷及調(diào)試驗(yàn)證62-72
• 5.1 數(shù)據(jù)處理板的結(jié)構(gòu)分析62-63
• 5.2 數(shù)據(jù)處理板的TPS設(shè)計(jì)63-69
• 5.2.1 故障樹分析部分63-65
• 5.2.2 邊界掃描測試部分65-69
• 5.3 數(shù)據(jù)處理板的測試及結(jié)果驗(yàn)證69-70
• 5.4 本章小結(jié)70-72
• 第六章 總結(jié)與展望72-74
• 6.1 工作總結(jié)72
• 6.2 研究展望72-74
• 致謝74-76
• 參考文獻(xiàn)76-82
• 攻讀碩士學(xué)位期間發(fā)表的論文82

【參考文獻(xiàn)】

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