本文關(guān)鍵詞：外推法天線增益測量系統(tǒng)的暗室反射影響評估

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【摘要】：介紹了外推法技術(shù),在此基礎(chǔ)上提出一種基于幾何光學(xué)的吸波材料影響評估方法.該方法可以在數(shù)字濾波后有效模擬并引入反射信號,通過比較兩次外推后的數(shù)據(jù),得到對增益測量的影響評估結(jié)果.在中國計量科學(xué)研究院(National Institute of Metrology,NIM)的外推法裝置中進(jìn)行實驗驗證,結(jié)果表明:該方法可以有效模擬吸波材料的影響,并給出由吸波材料引入的增益測量不確定度分量.該方法目前已應(yīng)用到NIM和英國國家物理研究院(National Physical Laboratory,NPL)的外推法測量結(jié)果評定中,不僅對于外推法,對于在暗室中進(jìn)行的其他天線測量結(jié)果的評估也具有很好的參考價值.
【作者單位】： 中國計量科學(xué)研究院(NIM);National
【關(guān)鍵詞】： 外推法 天線增益 吸波材料反射率 不確定度評定
【基金】：科技部國際科技合作與交流專項(2013DFA70570) 國家科技支撐計劃項目子課題(2014BAK02B01)
【分類號】：TN820
【正文快照】： 引言三天線外推法技術(shù)是一種在有限距離準(zhǔn)確測量天線增益和極化特性的方法[1].這種方法基于平面波散射矩陣?yán)碚揫2],通過在不同位置測量一對收發(fā)天線之間的傳輸功率并利用數(shù)據(jù)外推技術(shù),得到無限遠(yuǎn)處增益.外推法可以克服傳統(tǒng)三天線法天線對間的互耦問題,是目前公認(rèn)的測量無限遠(yuǎn)

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本文編號：601808