在天線方向圖測試中,緊縮場測試(CATR)是遠場測試的一種有效替代手段,但多徑效應的存在,會顯著影響緊縮場測試的精確度。本文提出一種能在緊縮場測試中有效消除多徑效應的方法。該方法把待測天線(AUT)沿任意特定方向等距移動,進行多次測量,不同位置測得的多徑信號會有不同的相移因子,利用這些相移因子構造一范德蒙特矩陣,對該范德蒙特矩陣直接求逆,可得到被測單元對所有信號的響應輸出,其中,零度方向的響應輸出即為待測單元的方向圖。仿真及測試數(shù)據(jù)偏差均小于0.5 dB,表明該方法可以對多徑效應進行有效的消除。

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本文編號：4022407