一種面向SoC的能量跡預(yù)處理方法
發(fā)布時(shí)間:2023-02-19 08:35
差分功耗攻擊技術(shù)是恢復(fù)密碼設(shè)備密鑰最有效的攻擊手段之一,但在攻擊過程中,如果使用不合適的采樣點(diǎn),將引入額外噪聲,會(huì)降低攻擊成功率。為此,提出了一種基于能量模型的能量跡分類方法,旨在定位能量跡中與密鑰具有較強(qiáng)相關(guān)性的特征點(diǎn)。分別利用漢明距離和漢明重量2種能量模型定位特征點(diǎn),截取特征點(diǎn)附近少量采樣點(diǎn)構(gòu)成特征區(qū)間。攻擊不同密鑰下載有128位AES算法的SoC芯片,實(shí)測(cè)結(jié)果表明:利用漢明距離能量模型得到的最佳特征區(qū)間的長度較短。最終,基于漢明距離能量模型得到的特征點(diǎn)定位方法具有較低的樣本計(jì)算量,且縮減了大量的樣本量。
【文章頁數(shù)】:6 頁
【文章目錄】:
1 引言
2 研究背景
2.1 能量模型
2.2 基于均值差的DPA原理
3 基于能量模型的特征點(diǎn)定位方法
4 實(shí)測(cè)驗(yàn)證
5 結(jié)束語
本文編號(hào):3745889
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1 引言
2 研究背景
2.1 能量模型
2.2 基于均值差的DPA原理
3 基于能量模型的特征點(diǎn)定位方法
4 實(shí)測(cè)驗(yàn)證
5 結(jié)束語
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