發(fā)布時間：2022-12-22 04:05

　　針對手機殼表面缺陷類型多樣、光學性質(zhì)不一的特點,分析研究了各類缺陷最佳成像光路,基于彩色相機RGB三通道,設(shè)計了三工位光源照明系統(tǒng),將單色紅光暗場成像光路、單色綠光暗場成像光路、單色藍光同軸光成像光路組合對金屬手機殼表面進行照明;然后基于RGB顏色空間將獲取的彩色圖像分離為三幅單分量圖像,對各個通道圖像進行預處理,利用Canny算子進行缺陷邊緣檢測提取特征,最后將三通道圖像識別結(jié)果融合實現(xiàn)缺陷檢測。實驗結(jié)果表明:該方法能有效凸顯手機殼表面的凹坑、斑點、不同方向的劃痕等對應缺陷特征,設(shè)計的圖像處理算法流程具有針對性,實驗系統(tǒng)有效節(jié)約空間和硬件成本。 

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【參考文獻】：
期刊論文
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本文編號：3723416