共面波導饋電的新型圓極化天線陣列
發(fā)布時間:2021-04-01 21:25
提出了一種新型共面波導(CPW)饋電的1×2圓極化陣列天線及改進后的2×2陣列天線.為了改善陣列天線的圓極化軸比帶寬,將順序旋轉饋電技術與共面波導-槽線饋電網絡相結合,設計了用于微帶貼片天線的新型饋電網絡.仿真與實測結果證明,該類型的饋電網絡可以同時改善陣列天線的阻抗帶寬與軸比帶寬.實測結果表明,1×2線陣的阻抗帶寬與軸比帶寬分別為3.79%和16.41%.2×2面陣的阻抗帶寬與軸比帶寬分別為3.61%和10.83%.
【文章來源】:四川大學學報(自然科學版). 2017,54(05)北大核心CSCD
【文章頁數】:6 頁
【部分圖文】:
圖11×2陣列天線結構Fig.1Thegeometryofthe1×2array
~50Ω的共面波導過渡結構,方便與50Ω同軸線匹配.優(yōu)化后的2×2陣列天線尺寸如表2所示.表2優(yōu)化后的2×2陣列天線尺寸Tab.2Theoptimalparametersofthe2×2array參數尺寸(mm)參數尺寸(mm)h1l_d4.23G0.30l_e6.70W3l-f9W_s72l-g8L_s65lamda37.34l_a2.91d_18.28l_b12.39d_212.94l_c1.80圖22×2陣列天線結構Fig.2Thegeometryofthe2×2array3天線仿真與測試結果根據上述設計參數,以FR4介質板為基礎分別加工了一個1×2陣列天線和一個2×2陣列天線,它們的實物圖如圖3和圖4所示.圖31×2陣列天線實物圖Fig.3Topviewandbottomviewofthe1×2array圖42×2陣列天線實物圖Fig.4Topviewandbottomviewofthe2×2array1×2陣列天線的回波損耗(|S11|)和軸比(AR)的仿真與實測結果如圖5所示.可以看出,仿真與測試結果吻合的較好,誤差主要由天線加工誤差導致,比如槽線縫隙寬度誤差,圓形貼片半徑誤差等.同時,SMA接頭與共面波導之間的焊接也會產生誤差.3-dB軸比帶寬的測試結果為5.69~5.91GHz(3.79%),測試的阻抗帶寬為5.37~6.33GHz(16.41%).|S11|幅值在整個3-dB軸比帶寬內均小于-10dB.圖6描述
寸(mm)h1l_d4.23G0.30l_e6.70W3l-f9W_s72l-g8L_s65lamda37.34l_a2.91d_18.28l_b12.39d_212.94l_c1.80圖22×2陣列天線結構Fig.2Thegeometryofthe2×2array3天線仿真與測試結果根據上述設計參數,以FR4介質板為基礎分別加工了一個1×2陣列天線和一個2×2陣列天線,它們的實物圖如圖3和圖4所示.圖31×2陣列天線實物圖Fig.3Topviewandbottomviewofthe1×2array圖42×2陣列天線實物圖Fig.4Topviewandbottomviewofthe2×2array1×2陣列天線的回波損耗(|S11|)和軸比(AR)的仿真與實測結果如圖5所示.可以看出,仿真與測試結果吻合的較好,誤差主要由天線加工誤差導致,比如槽線縫隙寬度誤差,圓形貼片半徑誤差等.同時,SMA接頭與共面波導之間的焊接也會產生誤差.3-dB軸比帶寬的測試結果為5.69~5.91GHz(3.79%),測試的阻抗帶寬為5.37~6.33GHz(16.41%).|S11|幅值在整個3-dB軸比帶寬內均小于-10dB.圖6描述了2×2陣列天線的回波損耗(|S11|)和軸比(AR)的測試與仿真結果.與1×2陣列天線的情況類似,測試與仿真結果間的誤差可能由加工誤差及接頭焊接引起.測試得到的3-dB軸比帶寬為5.71~5.92GHz(3.61
【參考文獻】:
期刊論文
[1]介質覆蓋層對微帶天線帶寬的展寬作用[J]. 鄭治,陳星,許光輝,王昊,黃卡瑪. 四川大學學報(自然科學版). 2016(02)
[2]利用線極化天線快速測量圓極化天線軸比的方法[J]. 李南京,馮引良,王建飛,黨嬌嬌. 紅外與激光工程. 2013(08)
本文編號:3113996
【文章來源】:四川大學學報(自然科學版). 2017,54(05)北大核心CSCD
【文章頁數】:6 頁
【部分圖文】:
圖11×2陣列天線結構Fig.1Thegeometryofthe1×2array
~50Ω的共面波導過渡結構,方便與50Ω同軸線匹配.優(yōu)化后的2×2陣列天線尺寸如表2所示.表2優(yōu)化后的2×2陣列天線尺寸Tab.2Theoptimalparametersofthe2×2array參數尺寸(mm)參數尺寸(mm)h1l_d4.23G0.30l_e6.70W3l-f9W_s72l-g8L_s65lamda37.34l_a2.91d_18.28l_b12.39d_212.94l_c1.80圖22×2陣列天線結構Fig.2Thegeometryofthe2×2array3天線仿真與測試結果根據上述設計參數,以FR4介質板為基礎分別加工了一個1×2陣列天線和一個2×2陣列天線,它們的實物圖如圖3和圖4所示.圖31×2陣列天線實物圖Fig.3Topviewandbottomviewofthe1×2array圖42×2陣列天線實物圖Fig.4Topviewandbottomviewofthe2×2array1×2陣列天線的回波損耗(|S11|)和軸比(AR)的仿真與實測結果如圖5所示.可以看出,仿真與測試結果吻合的較好,誤差主要由天線加工誤差導致,比如槽線縫隙寬度誤差,圓形貼片半徑誤差等.同時,SMA接頭與共面波導之間的焊接也會產生誤差.3-dB軸比帶寬的測試結果為5.69~5.91GHz(3.79%),測試的阻抗帶寬為5.37~6.33GHz(16.41%).|S11|幅值在整個3-dB軸比帶寬內均小于-10dB.圖6描述
寸(mm)h1l_d4.23G0.30l_e6.70W3l-f9W_s72l-g8L_s65lamda37.34l_a2.91d_18.28l_b12.39d_212.94l_c1.80圖22×2陣列天線結構Fig.2Thegeometryofthe2×2array3天線仿真與測試結果根據上述設計參數,以FR4介質板為基礎分別加工了一個1×2陣列天線和一個2×2陣列天線,它們的實物圖如圖3和圖4所示.圖31×2陣列天線實物圖Fig.3Topviewandbottomviewofthe1×2array圖42×2陣列天線實物圖Fig.4Topviewandbottomviewofthe2×2array1×2陣列天線的回波損耗(|S11|)和軸比(AR)的仿真與實測結果如圖5所示.可以看出,仿真與測試結果吻合的較好,誤差主要由天線加工誤差導致,比如槽線縫隙寬度誤差,圓形貼片半徑誤差等.同時,SMA接頭與共面波導之間的焊接也會產生誤差.3-dB軸比帶寬的測試結果為5.69~5.91GHz(3.79%),測試的阻抗帶寬為5.37~6.33GHz(16.41%).|S11|幅值在整個3-dB軸比帶寬內均小于-10dB.圖6描述了2×2陣列天線的回波損耗(|S11|)和軸比(AR)的測試與仿真結果.與1×2陣列天線的情況類似,測試與仿真結果間的誤差可能由加工誤差及接頭焊接引起.測試得到的3-dB軸比帶寬為5.71~5.92GHz(3.61
【參考文獻】:
期刊論文
[1]介質覆蓋層對微帶天線帶寬的展寬作用[J]. 鄭治,陳星,許光輝,王昊,黃卡瑪. 四川大學學報(自然科學版). 2016(02)
[2]利用線極化天線快速測量圓極化天線軸比的方法[J]. 李南京,馮引良,王建飛,黨嬌嬌. 紅外與激光工程. 2013(08)
本文編號:3113996
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