超稀疏陣列近場(chǎng)波束形成與節(jié)點(diǎn)智能遴選方法研究
【學(xué)位單位】:西安電子科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位年份】:2019
【中圖分類】:TN958.92
【部分圖文】:
西安電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文16圖3.1 檢測(cè)門限與虛警概率從上述仿真結(jié)果可以看出,虛警率與檢測(cè)門限成反比,檢測(cè)門限設(shè)置得越高,虛警率越低,檢測(cè)門限設(shè)置為 13dB 以上時(shí),虛警率便可降低到 10e-8以下(2)虛警時(shí)間faT虛警概率fap 是指噪聲包絡(luò)電壓超過TU 的概率,通常還可采用faT 來表征虛警數(shù)量,faT 是檢測(cè)到多個(gè)相鄰虛警信號(hào)的平均時(shí)間間隔,用KT 表示噪聲電平超過TU 的時(shí)間間隔,用 ( )kt平均表示脈沖平均寬度
第三章 超稀疏陣列系統(tǒng)參數(shù)分析與近場(chǎng)波束形成17圖3.2 檢測(cè)門限與虛警時(shí)間從上述仿真可知,帶寬相同時(shí),檢測(cè)門限值設(shè)置越高,對(duì)應(yīng)虛警時(shí)間越長(zhǎng);檢測(cè)門限相同時(shí),系統(tǒng)帶寬越寬,對(duì)應(yīng)虛警時(shí)間越短。(3)發(fā)現(xiàn)概率dp如果環(huán)境不存在噪聲,那么理論上任何功率大小的信號(hào)都能經(jīng)過多次放大檢測(cè)到,理論上dp 為信號(hào)電壓超過TU 的概率,然而事實(shí)上接收端接收時(shí)的噪聲是客觀存在的,因此討論dp 時(shí)不能忽略噪聲,實(shí)際上的dp 為信號(hào)加噪聲后的電壓超過TU 的概率。當(dāng)用2 表示噪聲方差
圖3.3檢測(cè)門限與發(fā)現(xiàn)概率從上述仿真結(jié)果看出,檢測(cè)門限相同時(shí)時(shí),信噪比越小,發(fā)現(xiàn)概率越低難以被檢測(cè)到;信噪比相同時(shí),檢測(cè)門限值設(shè)置得越大,發(fā)現(xiàn)概率越低檢測(cè)門限設(shè)置過高使目標(biāo)更難以被檢測(cè)到,這也符合我們?nèi)粘5恼J(rèn)知規(guī)合理設(shè)置一個(gè)檢測(cè)門限,使得dp 和fap 均符合我們的要求是很有必要的。仿真可知,SNR 在 12~14dB 之間時(shí),fap 不會(huì)過大,而dp 又不會(huì)太小。3.1.2 超稀疏陣列雷達(dá)探測(cè)威力范圍與最少節(jié)點(diǎn)數(shù)估算根據(jù)雷達(dá)方程及以下公式:2 2 20 0 03 40( )( )=(4 )t t cPARPP G N N N N NSNRkT FLR L 其中發(fā)射增益 Gt:20 0( )t tG G N N接收天線增益 Gr:0 0( )rG G NN0N :每個(gè)節(jié)點(diǎn)的天線單元數(shù);
【相似文獻(xiàn)】
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本文編號(hào):2820207
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