磁性物理不可克隆函數(shù)與真隨機(jī)數(shù)發(fā)生器設(shè)計(jì)及制備
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2019
【分類號(hào)】:TN918.4
【圖文】:
傳統(tǒng)的硬件加密方法一般將加密密鑰通過編程存儲(chǔ)在一個(gè)非易失性存儲(chǔ)器(例EPROM)上。然而,攻擊者很容易通過測(cè)量引腳等手段獲取這種存儲(chǔ)器中的信息。,需要引入新型的硬件加密方法,人們便提出了物理不可克隆函數(shù)的概念:在F 器件制備過程中,材料的不均勻性以及器件制備工藝中存在的不可控隨機(jī)性, PUF 器件雖然是用同樣的材料和工藝流程制備的,但是對(duì)于相同的激勵(lì)hallenge)或者輸入,不同 PUF 器件的響應(yīng)(Response)或者輸出將會(huì)是不同的,這機(jī)分布的響應(yīng)可以用來進(jìn)行信息加密。如圖 1-1 所示,在典型的應(yīng)用場(chǎng)景中,F(xiàn) 的應(yīng)用分為兩個(gè)步驟[2]: 第一個(gè)步驟通常稱為 PUF 注冊(cè),即從特定 PUF 收集激勵(lì)響應(yīng)對(duì)(Challenge Response Pairs, CRPs)并存儲(chǔ)在主機(jī)的 CRP 數(shù)據(jù)庫中;個(gè)步驟即 PUF 認(rèn)證,將來自 CRP 數(shù)據(jù)庫中的某些挑戰(zhàn)作用于 PUF 器件,并將的響應(yīng)與 CPR 數(shù)據(jù)庫中存儲(chǔ)的響應(yīng)信息進(jìn)行比較。如果信息在誤差允許的范圍吻合的,則認(rèn)證通過。如果信息是不吻合的,則認(rèn)證不通過。
圖 1-2 MTJ 結(jié)構(gòu)及其高阻和低阻狀態(tài)目前提出的基于 MRAM 制備 PUF 的方案之一是利用制備工藝中 MTJ 幾何形機(jī)差異來提取密鑰。MTJ 幾何形狀的隨機(jī)差異會(huì)導(dǎo)致MTJ 各向異性的隨機(jī)差異一塊芯片上的不同 MTJ 具有不同的臨界翻轉(zhuǎn)磁場(chǎng)或者臨界翻轉(zhuǎn)電流,通過適磁場(chǎng)或者電流,可以使 MTJ 陣列發(fā)生隨機(jī)翻轉(zhuǎn),從而提取隨機(jī)密鑰[16,18,22,23]。種方案是在器件制備完成后,將所有 MTJ 兩兩分組并將這兩個(gè) MTJ 置為同一平行狀態(tài)或者反平行狀態(tài)),,然后利用比較器比較這兩個(gè) MTJ 阻值的差異得的 PUF 密鑰[17]。這兩種方案均需要一個(gè)比較大的寫電流,或者需要外加磁場(chǎng) MTJ 以獲取工藝的隨機(jī)性,其功耗較高,結(jié)構(gòu)復(fù)雜,不利集成,也不利于低大規(guī)模使用。基于上述問題,本課題提出并研究制備了基于垂直磁各向異性(Perpendicuetic Anisotropy, PMA)的 Ta/CoFeB/MgO 異質(zhì)結(jié)的界面各向異性能(InterfactropyEnergy,IAE)的物理不可克隆函數(shù)(IAE-PUF)器件。IAE-PUF 無需外磁
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本文編號(hào):2712090
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