基于輻射場(chǎng)功率信息的陣列故障診斷方法研究
發(fā)布時(shí)間:2020-06-01 22:59
【摘要】:隨著陣列規(guī)模的擴(kuò)大,出現(xiàn)失效陣元的概率也會(huì)增加。在實(shí)際應(yīng)用中,受硬件精度和裝配工藝的影響,陣列往往存在誤差,即陣列失配,導(dǎo)致實(shí)際陣列與理想陣列的響應(yīng)不同。因此,失效陣元診斷算法受到研究人員的廣泛關(guān)注。本文主要基于輻射場(chǎng)功率信息,圍繞基于輻射場(chǎng)功率信息的陣列故障診斷算法和考慮陣列失配的陣列故障診斷算法開展研究,具體工作如下:1、針對(duì)只利用幅度測(cè)量信息的陣列故障診斷,考慮到大部分現(xiàn)有的算法有特定的應(yīng)用場(chǎng)景,因此本文提出了一種基于輻射場(chǎng)功率信息的混合范數(shù)陣列故障診斷算法,適用于任意失效率陣列。該方法首先通過聯(lián)合拉普拉斯分布和高斯分布對(duì)陣列激勵(lì)做出假設(shè),并用平衡參數(shù)?擬合實(shí)際情況;然后,依據(jù)最大后驗(yàn)概率準(zhǔn)則得到陣列診斷的優(yōu)化問題;最后,利用交替方向乘子法重構(gòu)陣列激勵(lì)。計(jì)算機(jī)仿真結(jié)果表明,本文所提出的方法比現(xiàn)有算法更適用于任意失效率下的陣列故障診斷,能夠有較好的診斷效果。2、針對(duì)實(shí)際應(yīng)用中存在的陣列失配問題,提出了一種基于天線輻射遠(yuǎn)場(chǎng)功率信息的交替迭代優(yōu)化算法。該算法用一階泰勒展開逼近存在陣列失配的陣列流形。本文的陣列失配誤差包括頻率偏移誤差和陣元位置誤差。然后分別依次固定陣列失配參數(shù)和陣列激勵(lì),通過不斷的迭代重構(gòu)陣列激勵(lì)。計(jì)算機(jī)仿真結(jié)果表明,存在陣列失配時(shí),本文所提出的方法較未考慮陣列失配的算法能更準(zhǔn)確地定位失效陣元。3、在交替迭代優(yōu)化算法的基礎(chǔ)上提出了基于天線輻射遠(yuǎn)場(chǎng)功率信息的未知量重組陣列故障診斷算法。該算法采用的陣列流形的一階泰勒展開式,能更精確地近似輻射場(chǎng)功率信息模型。特別地,該算法將陣列失配參數(shù)與陣列激勵(lì)通過線性組合得到一個(gè)新的變量,簡(jiǎn)化原優(yōu)化問題。最后,借助交替方向乘子法重構(gòu)陣列激勵(lì)。計(jì)算機(jī)仿真結(jié)果與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)表明,當(dāng)存在陣列失配時(shí),與未考慮陣列失配的算法和交替迭代優(yōu)化算法相比,未知量重組算法具有更準(zhǔn)確的重構(gòu)激勵(lì)和更小的診斷誤差。
【學(xué)位授予單位】:電子科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2019
【分類號(hào)】:TP277;TN820
本文編號(hào):2692196
【學(xué)位授予單位】:電子科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2019
【分類號(hào)】:TP277;TN820
【參考文獻(xiàn)】
相關(guān)期刊論文 前1條
1 汪一心,朱桓,徐曉文,李世智;陣列有源天線單元失效的影響與補(bǔ)償[J];現(xiàn)代雷達(dá);1998年04期
,本文編號(hào):2692196
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