微波光子技術(shù)相控陣?yán)走_(dá)天線現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)系統(tǒng)
【圖文】:
信號(hào)處理技術(shù)來獲取被測(cè)電場(chǎng)的幅相信息,該技術(shù)具有對(duì)被測(cè)場(chǎng)的干擾孝空間分辨力高、不受外界環(huán)境的電磁干擾、工作帶寬大等諸多優(yōu)勢(shì)。在參考文獻(xiàn)[13]中筆者提出了一種基于光子技術(shù)的相控陣天線校準(zhǔn)方法,該方法可實(shí)現(xiàn)對(duì)天線陣面幅度和相移較高精度的精確校準(zhǔn),但是其系統(tǒng)較復(fù)雜,同時(shí)電信號(hào)的雜譜較多,導(dǎo)致測(cè)量校準(zhǔn)的動(dòng)態(tài)范圍有限。文中提出一種結(jié)構(gòu)更加緊湊的基于微波光子技術(shù)的相控陣?yán)走_(dá)天線現(xiàn)場(chǎng)發(fā)射校準(zhǔn)系統(tǒng),圖1所示為該現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)方法的系統(tǒng)組成原理圖,其主要包括光學(xué)探針陣列、信號(hào)處理系統(tǒng)兩大部分。其中光圖1基于微波光子技術(shù)的相控陣天線現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)系統(tǒng)組成原理圖Fig.1Schematicdiagramofin-situcalibrationsystemofphasedarrayradarantennabasedonmicrowavephotonictechnology
紿秸胝罅蟹瓷浠乩吹墓庋綆藕漚鈉?解調(diào)、放大和信號(hào)處理,以獲得被測(cè)天線單元的電場(chǎng)輻射信息。光學(xué)探針采用基于電光效應(yīng)的場(chǎng)測(cè)量技術(shù),電光晶體在外電場(chǎng)的作用下其折射率特性發(fā)生改變,進(jìn)而改變傳輸光的偏振態(tài),通過檢偏器件將傳輸光偏振態(tài)的變化轉(zhuǎn)變?yōu)楣鈴?qiáng)的變化,圖2所示為光學(xué)探針的基本組成示意圖。其主要由準(zhǔn)直透鏡、起偏器、λ/8波片、電光晶體以及高反射介質(zhì)片組成,通過將這些光學(xué)元件集成在小的玻璃細(xì)管中,便可對(duì)天線單元的輻射場(chǎng)進(jìn)行高分辨率的電場(chǎng)測(cè)量。圖2光學(xué)探針光路原理圖Fig.2Schematicdiagramoflightpathofopticalprobe其工作原理為當(dāng)入射光經(jīng)過起偏器P1后的瓊斯矩陣表示為[E0,,0],則沿圖2中的路徑依次經(jīng)過光學(xué)元件并經(jīng)過反射原路返回后的光束的瓊斯矩陣可表示為:ExEy′′=100′′0cosπ81-itanπ8cos2θ-itanπ8sin2θ-itanπ8sin2θ1+itanπ8cos2θ′′′′′′′′′′′′′′′′′′′′′′′′·cosδ21-itanδ2cos2θ′-itanδ2sin2θ′-itanδ2sin2θ′1+itanδ2cos2θ′′′′′′′′′′′′′′′′′′′′′′′′′·cosδ21-itanδ2cos2θ′-itanδ2sin2θ′-itanδ2sin2θ′1+itanδ2cos2θ′′′′′′′′′′′′′′′′′′′′′′′′′·cosπ81-itanπ8cos2θ-itanπ8sin2θ-itanπ8sin2θ1+itanπ8cos2θ′
【參考文獻(xiàn)】
相關(guān)期刊論文 前7條
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【共引文獻(xiàn)】
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【二級(jí)參考文獻(xiàn)】
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6 薛s鈦
本文編號(hào):2582010
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