本文選題：三坐標(biāo)測量機(jī)　切入點(diǎn)：副反射面　出處：《無線電通信技術(shù)》2016年06期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：針對高頻反射面天線中對其表面精度要求高的問題,提出了基于三坐標(biāo)測量機(jī)的副反射面測量方案。通過理論分析給出了副反射面測量過程中三坐標(biāo)測量機(jī)的采點(diǎn)方案,將曲面測量轉(zhuǎn)化為曲線測量;討論了測量數(shù)據(jù)處理中測頭半徑補(bǔ)償和曲線匹配等關(guān)鍵問題,消除了系統(tǒng)誤差的影響,提高了測量精度;得到了被測副反射面的表面精度,并用圖形表示出來。理論和實(shí)驗(yàn)表明該測量方案的有效性。
[Abstract]:In order to solve the problem of high precision of the surface of high frequency reflector antenna, a measuring scheme of the surface of the reflector based on CMM is put forward, and the sampling scheme of CMM in the process of measuring the surface of the reflector is given through theoretical analysis. The surface measurement is transformed into curve measurement, the key problems such as probe radius compensation and curve matching in data processing are discussed, the influence of system error is eliminated, and the measuring accuracy is improved, and the surface accuracy of the measured pair reflection surface is obtained. The theoretical and experimental results show that the proposed scheme is effective.
【作者單位】： 中國電子科技集團(tuán)公司第五十四研究所;
【分類號】：TN820

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本文編號：1575140