發(fā)布時(shí)間：2018-01-13 11:10

  本文關(guān)鍵詞：大面積微通道板清刷與測(cè)試技術(shù)研究　出處：《南京理工大學(xué)》2017年碩士論文　論文類型：學(xué)位論文

  更多相關(guān)文章： X射線探測(cè) 大面積MCP 電子清刷 大面積面電子源 真空系統(tǒng)

【摘要】：微通道板(MCP)作為一種高性能的二維電子倍增器件,具有低噪聲,高增益,高分辨率等優(yōu)點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于微光夜視、空間探測(cè)等領(lǐng)域�；诖竺娣eMCP的X射線探測(cè)器是脈沖星導(dǎo)航的重要部件,電子清刷和性能測(cè)試是大面積MCP制備過(guò)程中的重要環(huán)節(jié)。本文圍繞大面積MCP的電子清刷和測(cè)試技術(shù)展開(kāi)研究,設(shè)計(jì)并研制了一臺(tái)多工位大面積MCP電子清刷和性能測(cè)試裝置。本文首先介紹了 MCP的發(fā)展概況以及傳統(tǒng)的兩種用于MCP電子清刷和性能測(cè)試的電子源;然后,根據(jù)MCP的工作原理以及大面積MCP電子清刷和性能測(cè)試的要求,設(shè)計(jì)了一種新型大面積均勻面電子源,理論分析了 MCP電子清刷的機(jī)理,提出了 MCP電子清刷的閉環(huán)自動(dòng)控制方案以及MCP特性參數(shù)的測(cè)試方法;接著,根據(jù)提出的方案,研制了一臺(tái)多工位大面積MCP電子清刷和性能測(cè)試裝置,編寫(xiě)了 MCP清刷測(cè)試系統(tǒng)控制軟件和MCP均勻性測(cè)試軟件,完成了系統(tǒng)軟硬件的聯(lián)調(diào);最后,利用該裝置對(duì)用于脈沖星導(dǎo)航的100mm×50mm大面積MCP進(jìn)行了電子清刷和性能測(cè)試。研究了 MCP在不同板間電壓下的電流增益特性以及不同輸入電流對(duì)增益的影響;測(cè)試了 MCP的均勻性,并對(duì)烘烤前后MCP的體電阻進(jìn)行了分析;對(duì)MCP進(jìn)行不同劑量的電子清刷實(shí)驗(yàn),分析了電子清刷對(duì)MCP增益和暗計(jì)數(shù)的影響。結(jié)果表明,本裝置不但可以對(duì)大面積MCP進(jìn)行高質(zhì)量的電子清刷,還可以對(duì)清刷后的MCP進(jìn)行性能測(cè)試,從而獲得高質(zhì)量的大面積MCP。
[Abstract]:As a high performance two-dimensional electron multiplier with low noise, high gain and high resolution, microchannel MCPs are widely used in low light level night vision (LLL). X-ray detector based on large area MCP is an important part of pulsar navigation. Electronic cleaning and performance testing is an important part in the preparation of large area MCP. This paper focuses on the electronic cleaning and testing technology of large area MCP. A large area electronic brush cleaning and performance testing device for multi-station MCP is designed and developed in this paper. The development of MCP and the traditional two kinds of electronic sources used for MCP electronic cleaning and performance testing; Then, according to the working principle of MCP and the requirements of large area MCP electronic cleaning and performance testing, a new type of large area uniform surface electron source is designed, and the mechanism of MCP electronic cleaning is analyzed theoretically. The closed-loop automatic control scheme of MCP electronic cleaning and the testing method of MCP characteristic parameters are proposed. Then, according to the proposed scheme, a multi-station large area MCP electronic brush cleaning and performance testing device is developed, and the control software of MCP cleaning test system and the MCP uniformity testing software are compiled. The software and hardware of the system are adjusted. Finally. The electronic brushing and performance test of 100mm 脳 50mm large area MCP used for pulsar navigation were studied. The current gain characteristics of MCP at different inter-plate voltages and the effect of different input currents on the gain; The homogeneity of MCP was tested and the volume resistance of MCP before and after baking was analyzed. The effects of electronic cleaning on the gain and dark count of MCP were analyzed. The results show that this device can not only carry out high quality electronic cleaning for large area MCP. We can also test the performance of the cleaned MCP to obtain high quality large area MCPs.
【學(xué)位授予單位】：南京理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2017
【分類號(hào)】：TN965

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本文編號(hào)：1418639