本文關(guān)鍵詞：基于FPGA的CRC查表法設(shè)計(jì)及優(yōu)化　出處：《電測(cè)與儀表》2017年03期 　論文類型：期刊論文

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【摘要】：循環(huán)冗余校驗(yàn)Cyclic Redundancy Checks(CRC)具有檢錯(cuò)能力極強(qiáng),開(kāi)銷小,易于用編碼器及檢測(cè)電路實(shí)現(xiàn),遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于奇偶校驗(yàn)及算術(shù)和校驗(yàn)等方式的特點(diǎn),故在串行通信中添加CRC校驗(yàn)可保證通信的有效性。而FPGA具有靈活穩(wěn)定,快速高效的特點(diǎn),故用VHDL實(shí)現(xiàn)CRC查表法設(shè)計(jì)并對(duì)其優(yōu)化分析,使其在串行通信中具有良好的穩(wěn)定性,提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)臏?zhǔn)確性。
[Abstract]:Cyclic redundancy check Cyclic Redundancy Checks ( CRC ) has the characteristics of extremely strong error detection ability , small overhead , easy realization with encoder and detection circuit , which is much better than parity check and arithmetic and check .

【作者單位】： 中北大學(xué)電子測(cè)試技術(shù)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;中北大學(xué)儀器科學(xué)與動(dòng)態(tài)測(cè)試教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【分類號(hào)】：TN791;TN911.22
【正文快照】： 0引言在數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和數(shù)據(jù)通信網(wǎng)絡(luò)等領(lǐng)域中,由于傳輸?shù)牟淮_定性及干擾等情況,使得通信出現(xiàn)異常,因此在串行通信中添加校驗(yàn)是必不可少的[1]。而FP-GA來(lái)做數(shù)字信號(hào)處理是完全的硬件化、并行化編程操作,具有靈活調(diào)節(jié)的優(yōu)點(diǎn)[2],故廣泛應(yīng)用于串行通信中。在通信中,常規(guī)的CRC校驗(yàn)是按

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3 任子生,施大申;“指針”查表法和誤差的軟件修正[J];電測(cè)與儀表;1999年09期

4 吳耿鋒;快速查表法在實(shí)時(shí)檢測(cè)中的應(yīng)用[J];中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)學(xué)報(bào);1991年01期

5 許俊;用改進(jìn)的查表法實(shí)現(xiàn)高速模運(yùn)算電路[J];微電子學(xué)與計(jì)算機(jī);2004年10期

6 楊再初;潘長(zhǎng)勇;;基于查表法的多項(xiàng)式內(nèi)插器的實(shí)現(xiàn)[J];電視技術(shù);2009年S2期

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8 嚴(yán)惠;;非規(guī)則顏色的快速匹配“查表法”算法的研究與實(shí)現(xiàn)[J];電子測(cè)試;2013年20期

9 岳云峰;;用查表法對(duì)單線協(xié)議數(shù)據(jù)校驗(yàn)與糾錯(cuò)[J];電子元器件應(yīng)用;2004年10期

10 王銳,曹桂均;查表法在機(jī)車(chē)遙控系統(tǒng)中的應(yīng)用分析[J];鐵路計(jì)算機(jī)應(yīng)用;2005年02期

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本文編號(hào)：1385477