發(fā)布時(shí)間：2017-10-26 16:34

  本文關(guān)鍵詞：光柵莫爾條紋信號(hào)細(xì)分方法設(shè)計(jì)與Simulink仿真

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【摘要】：根據(jù)計(jì)量光柵莫爾條紋信號(hào)高精度細(xì)分的要求,提出了一種基于ADC幅值采樣和相位解算的光柵細(xì)分方法,并利用Simulink搭建仿真模型,使兩路正余弦信號(hào)通過(guò)正余切變換、幅值采樣、固定相位步長(zhǎng)細(xì)分等處理后輸出為兩路正交編碼信號(hào)。仿真實(shí)驗(yàn)表明,該細(xì)分方法在輸入理想信號(hào)情況下細(xì)分倍數(shù)主要與ADC采樣精度有關(guān),提高ADC采樣位數(shù)可有效提高最大細(xì)分倍數(shù)。通過(guò)在兩路時(shí)變sin/cos信號(hào)中添加幅值不等、相位不正交以及高次諧波分量等干擾噪聲的仿真實(shí)驗(yàn),驗(yàn)證了該方法的細(xì)分精度與信號(hào)質(zhì)量有關(guān)。
【作者單位】： 軍械工程學(xué)院;軍械技術(shù)研究所;北京航天計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所;
【關(guān)鍵詞】： 仿真建模 幅值采樣 相位解算 莫爾條紋細(xì)分 噪聲干擾
【分類(lèi)號(hào)】：TN911.7
【正文快照】： 1引言在精密儀器與測(cè)試領(lǐng)域,計(jì)量光柵以其穩(wěn)定性好、抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)而得到廣泛應(yīng)用,并且隨著精密檢測(cè)技術(shù)對(duì)儀器分辨率以及測(cè)試速度要求的提高,光柵莫爾條紋細(xì)分技術(shù)需要在高速追蹤和納米級(jí)測(cè)量方面有所突破[1~3]。光柵測(cè)量技術(shù)在位移、角度計(jì)量方面的應(yīng)用主要是以光柵迭

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本文編號(hào)：1099536