條紋圖處理是光學(xué)測(cè)量技術(shù)中一個(gè)非常重要的步驟。從早期的經(jīng)典傅里葉變換,到隨后引入局部分析能力的窗口傅里葉變換、小波變換、S變換,再到近些年變分模型分解、經(jīng)驗(yàn)?zāi)B(tài)分解(EMD)等,條紋圖處理技術(shù)經(jīng)歷了長(zhǎng)足的研究和發(fā)展歷程。在這些優(yōu)秀的技術(shù)中,EMD算法由于具有較強(qiáng)的自適應(yīng)性和復(fù)雜信號(hào)處理能力而在近些年受到一定的關(guān)注。文中結(jié)合條紋圖處理的關(guān)鍵內(nèi)容和發(fā)展歷程,重點(diǎn)分析和總結(jié)了EMD算法及其應(yīng)用于條紋圖處理的關(guān)鍵問(wèn)題和研究進(jìn)展,指出了該技術(shù)尚存的技術(shù)難點(diǎn)和主要問(wèn)題,為相關(guān)技術(shù)的發(fā)展提供了理論和實(shí)踐的參考。

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