基于經驗模態(tài)分解法的光學條紋圖像處理研究進展
發(fā)布時間:2024-01-25 08:42
條紋圖處理是光學測量技術中一個非常重要的步驟。從早期的經典傅里葉變換,到隨后引入局部分析能力的窗口傅里葉變換、小波變換、S變換,再到近些年變分模型分解、經驗模態(tài)分解(EMD)等,條紋圖處理技術經歷了長足的研究和發(fā)展歷程。在這些優(yōu)秀的技術中,EMD算法由于具有較強的自適應性和復雜信號處理能力而在近些年受到一定的關注。文中結合條紋圖處理的關鍵內容和發(fā)展歷程,重點分析和總結了EMD算法及其應用于條紋圖處理的關鍵問題和研究進展,指出了該技術尚存的技術難點和主要問題,為相關技術的發(fā)展提供了理論和實踐的參考。
【文章頁數(shù)】:11 頁
本文編號:3884498
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