應(yīng)用X-DR技術(shù)對(duì)典型GIS設(shè)備在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行了缺陷模擬及GIS設(shè)備實(shí)地檢測(cè),實(shí)現(xiàn)了GIS設(shè)備在不解體、不破壞條件下的可視化無損檢測(cè)。試驗(yàn)表明,X-DR技術(shù)可以在現(xiàn)場(chǎng)GIS設(shè)備運(yùn)行的情況下檢測(cè)出缺陷。

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