基于物像視差比較的透鏡組焦距測量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
發(fā)布時間:2021-11-15 11:19
透鏡組的焦距可以用測節(jié)器來測量,利用測節(jié)器測量的優(yōu)點(diǎn)就是直觀,在不用測節(jié)器的情況下,我們還可以用牛頓公式來測量,在利用牛頓公式時,需要知道焦點(diǎn)、物點(diǎn)、像點(diǎn)位置,常用的方法是對成像清晰程度進(jìn)行判斷,不同的人判斷是不一樣的,誤差較大。文中采用物像視差比較的方法來判斷,首先介紹整個測量系統(tǒng),再介紹針尖系統(tǒng),最后利用物像視差比較的方法,測出焦點(diǎn)、物點(diǎn)、像點(diǎn)位置,最終得到透鏡組的焦距,相對偏差是0.13%,同時用測節(jié)器測量透鏡組焦距,相對偏差0.45%?梢钥闯鲇梦锵褚暡畋容^的方法測量的結(jié)果更精確。
【文章來源】:大學(xué)物理實(shí)驗(yàn). 2020,33(01)
【文章頁數(shù)】:4 頁
【部分圖文】:
透鏡組光路圖
物點(diǎn)與像點(diǎn)的確定
圖2 物點(diǎn)與像點(diǎn)的確定透鏡組是待測的,針尖是自制的,調(diào)節(jié)光路,讓針尖與針尖的像成像在攝像頭中,分別拍下攝像頭在左邊、中間、右邊時的照片,可以通過照片上的針尖物體與針尖像的相對位移來判斷像點(diǎn)的位置。
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]基于CCD的透鏡焦距測量實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)[J]. 郭振宇,謝娜,何鵬舉,王西玲,諶靜,徐榮青. 計(jì)算機(jī)技術(shù)與發(fā)展. 2017(05)
[2]測節(jié)儀測量透鏡組基點(diǎn)的討論[J]. 劉秋武. 大學(xué)物理. 2016(10)
[3]薄透鏡焦距的測量研究[J]. 彭金松,彭金慶,廖潔,李根生,黃程,董一萍. 河池學(xué)院學(xué)報. 2016(02)
[4]薄透鏡焦距測量方法的研究[J]. 李偉,劉超,張利巍,劉松江,聶明. 物理實(shí)驗(yàn). 2014(07)
[5]改進(jìn)自準(zhǔn)直法測量透鏡焦距[J]. 彭東青. 中國現(xiàn)代教育裝備. 2012(19)
[6]“透鏡焦距測量”實(shí)驗(yàn)中物屏的改進(jìn)[J]. 葛國芳,丁斌剛. 大學(xué)物理實(shí)驗(yàn). 2011(04)
[7]一種測量光具組基準(zhǔn)點(diǎn)的實(shí)驗(yàn)方法[J]. 熊水兵,王建中. 大學(xué)物理實(shí)驗(yàn). 2010(03)
[8]二次成像法測定光具組的基點(diǎn)[J]. 白澤生,劉竹琴. 大學(xué)物理. 2007(08)
[9]“共軛法測薄透鏡焦距”中的測量條件選擇[J]. 洪麗. 物理教學(xué)探討. 2007(11)
[10]傳統(tǒng)幾何光學(xué)教學(xué)實(shí)驗(yàn)裝置的改進(jìn)[J]. 金恩培,周素瓊,張立彬,韓勝陽. 物理實(shí)驗(yàn). 2003(12)
本文編號:3496674
【文章來源】:大學(xué)物理實(shí)驗(yàn). 2020,33(01)
【文章頁數(shù)】:4 頁
【部分圖文】:
透鏡組光路圖
物點(diǎn)與像點(diǎn)的確定
圖2 物點(diǎn)與像點(diǎn)的確定透鏡組是待測的,針尖是自制的,調(diào)節(jié)光路,讓針尖與針尖的像成像在攝像頭中,分別拍下攝像頭在左邊、中間、右邊時的照片,可以通過照片上的針尖物體與針尖像的相對位移來判斷像點(diǎn)的位置。
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]基于CCD的透鏡焦距測量實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)[J]. 郭振宇,謝娜,何鵬舉,王西玲,諶靜,徐榮青. 計(jì)算機(jī)技術(shù)與發(fā)展. 2017(05)
[2]測節(jié)儀測量透鏡組基點(diǎn)的討論[J]. 劉秋武. 大學(xué)物理. 2016(10)
[3]薄透鏡焦距的測量研究[J]. 彭金松,彭金慶,廖潔,李根生,黃程,董一萍. 河池學(xué)院學(xué)報. 2016(02)
[4]薄透鏡焦距測量方法的研究[J]. 李偉,劉超,張利巍,劉松江,聶明. 物理實(shí)驗(yàn). 2014(07)
[5]改進(jìn)自準(zhǔn)直法測量透鏡焦距[J]. 彭東青. 中國現(xiàn)代教育裝備. 2012(19)
[6]“透鏡焦距測量”實(shí)驗(yàn)中物屏的改進(jìn)[J]. 葛國芳,丁斌剛. 大學(xué)物理實(shí)驗(yàn). 2011(04)
[7]一種測量光具組基準(zhǔn)點(diǎn)的實(shí)驗(yàn)方法[J]. 熊水兵,王建中. 大學(xué)物理實(shí)驗(yàn). 2010(03)
[8]二次成像法測定光具組的基點(diǎn)[J]. 白澤生,劉竹琴. 大學(xué)物理. 2007(08)
[9]“共軛法測薄透鏡焦距”中的測量條件選擇[J]. 洪麗. 物理教學(xué)探討. 2007(11)
[10]傳統(tǒng)幾何光學(xué)教學(xué)實(shí)驗(yàn)裝置的改進(jìn)[J]. 金恩培,周素瓊,張立彬,韓勝陽. 物理實(shí)驗(yàn). 2003(12)
本文編號:3496674
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