設(shè)計出基于幾何相位的介質(zhì)超表面實現(xiàn)線偏振光聚焦功能。該設(shè)計打破了傳統(tǒng)設(shè)計中幾何相位（Pancharatnam–Berry phase）的手性限制,不再是局限于左旋圓偏振光（LCP）和右旋圓偏振光（RCP）入射。通過有限時域差分仿真來證明這種線偏振聚焦相位調(diào)控的特性。該類功能器件可能用于設(shè)計新穎的THz元器件、高分辨成像、功能探測等方面。 

【文章來源】：光學(xué)儀器. 2020,42(01)

【文章頁數(shù)】：7 頁


本文編號：3202167