發(fā)布時(shí)間：2021-03-14 16:59

　　近場光學(xué)掃描成像在近現(xiàn)代迅速發(fā)展,目前已經(jīng)成為科學(xué)前沿領(lǐng)域無法代替的納米尺度表征手段,具有越來越重要的應(yīng)用價(jià)值。近場光學(xué)掃描成像技術(shù)通過近場探針將無法在遠(yuǎn)場探測到的隱失波轉(zhuǎn)化為可探測的光學(xué)信號,實(shí)現(xiàn)了衍射極限的突破,具有超分辨、無標(biāo)記、多參量等特點(diǎn),因而在物理、化學(xué)、生物等諸多領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。然而,傳統(tǒng)的近場掃描顯微鏡由于探針的局限性,存在分辨率有限、技術(shù)復(fù)雜和成像耗時(shí)長等許多問題。近年來,近場光學(xué)掃描成像向著更高的分辨率、更快的成像速度、更多樣的成像參量和更常規(guī)的成像條件發(fā)展。針對近場光學(xué)掃描成像的發(fā)展需求,金屬材料等新型近場探針得到了快速的發(fā)展,但仍然存在成像參量有限、信號提取困難等缺點(diǎn)。針對目前近場光學(xué)掃描成像存在的困難,本文在對納米顆粒-金屬膜結(jié)構(gòu)的矢量偏振響應(yīng)進(jìn)行系統(tǒng)研究之后,提出利用納米顆粒-金屬膜構(gòu)成的表面等離子體結(jié)構(gòu)作為近場探針進(jìn)行近場光學(xué)掃描成像,并就其應(yīng)用展開了探索性的研究。本論文主要內(nèi)容包括:1.聚焦矢量光場的強(qiáng)度分布成像研究,包括對其縱向場分量和橫向場分量的強(qiáng)度分布選擇性成像。針對縱向分量,提出以金屬納米顆粒-金屬膜結(jié)構(gòu)為近場探針進(jìn)行強(qiáng)度分布表征,其中研究了金... 

【文章來源】：深圳大學(xué)廣東省

【文章頁數(shù)】：103 頁

【學(xué)位級別】：博士

【部分圖文】：

徑向偏振光聚焦光場焦面內(nèi)縱向分量強(qiáng)度與橫向分量強(qiáng)度的比值隨聚焦數(shù)值孔徑的變化趨勢

(a)徑向偏振光束和(b)角向偏振光束失焦截面圖，插圖為偏振示意圖，(c)徑向偏振光束和(d)角向偏振光束分量強(qiáng)度截線圖(方框：實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)、黑色實(shí)線：計(jì)算數(shù)據(jù)、三角

聚焦矢量光場用于金屬納米顆粒捕獲示意圖以及捕獲實(shí)驗(yàn)結(jié)果圖


本文編號：3082580