提出了一種全光纖內(nèi)窺式數(shù)字散斑干涉面內(nèi)變形測量方法,能夠?qū)崿F(xiàn)對深孔、空腔和被遮掩表面純面內(nèi)變形的精密測量。通過構(gòu)建雙光路對稱照明的散斑干涉光路布局,以及設(shè)計光纖相移器,最終實現(xiàn)了一種穩(wěn)定性高、抗干擾能力強的內(nèi)窺式數(shù)字散斑干涉裝置。實驗裝置實現(xiàn)了入口直徑為40 mm的空腔內(nèi)部面內(nèi)變形直接測量,最大測試面積約為113 mm²。實驗結(jié)果表明,將實驗裝置安裝在普通的木質(zhì)辦公桌上進(jìn)行測量,在有人為干擾的情況下,依然可以得到比較理想的實驗結(jié)果,證明了所構(gòu)建的全光纖內(nèi)窺式數(shù)字散斑干涉裝置具有較強的抗干擾能力。 

【文章來源】：北京信息科技大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版). 2020,35(05)

【文章頁數(shù)】：8 頁

【部分圖文】：

全光纖E-DSPI面內(nèi)變測量系統(tǒng)

面內(nèi)位移與相位之間的關(guān)系可以由圖2所示的光路模型中推導(dǎo)獲得。兩束功率相近的激光束沿與中心軸夾角α的方向照射被測物表面，待對被測物加載使之產(chǎn)生微變形后，相機采集被測物變形前后兩幅散斑圖并在計算機內(nèi)部進(jìn)行運算處理，在計算機顯示屏上顯示面內(nèi)變形散斑干涉條紋。

在全光纖E-DSPI面內(nèi)變形光路系統(tǒng)中，通過人為施加適當(dāng)干擾(在測試過程中持續(xù)輕敲物光光纖)，使之作用于整個光路系統(tǒng)，觀察干擾對實驗結(jié)果的影響。實驗結(jié)果如圖4所示，其中圖4(a)為未加振動時的相位差圖，圖4(b)是人為加振動時所獲得的相位差圖，兩者結(jié)果幾乎相同，說明本系統(tǒng)有較好的干擾抑制能力。根據(jù)分析可知，因激光在光纖中傳播，輕微敲擊或抖動光纖并不會引起光程的明顯改變，故而對測試結(jié)果的影響不大。圖4 抗干擾評估測試結(jié)果

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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本文編號：3058812