為了能夠更好地實現(xiàn)對液晶光學(xué)相控陣的移相分布特性進行高精度的測量,本文針對傅里葉四分之一波片法的測試精度進行理論仿真和試驗驗證。仿真結(jié)果表明,該方法測試誤差小于0.08°,采用標(biāo)準(zhǔn)二分之一波片對其進行驗證,實驗結(jié)果表明重復(fù)精度小于0.3°。因此,針對液晶光學(xué)相控陣波控數(shù)據(jù)0.5°移相控制精度要求,傅里葉四分之一波片法的測試精度和重復(fù)精度能夠滿足移相測量精度要求。 

【文章來源】：液晶與顯示. 2017,32(01)北大核心

【文章頁數(shù)】：6 頁

【文章目錄】：
1 引言
2 理論
    2.1 系統(tǒng)光路與檢測原理
    2.2 精度分析
        2.2.1 隨機功率誤差ri
        2.2.2 步進角度
3 實驗驗證
4 結(jié)論



本文編號：3042008