【摘要】：為開展基于渦旋光場的吸收調(diào)制效應(yīng)超分辨技術(shù)研究,對光場吸收調(diào)制效應(yīng)的標(biāo)量和矢量兩種模型進(jìn)行了計算分析和比較。選取矢量模型研究不同拓?fù)浜�、不同線偏振方向渦旋光束緊聚焦情況下的吸收調(diào)制效應(yīng),計算經(jīng)吸收調(diào)制后的透射光斑尺寸。結(jié)果表明,渦旋光束的拓?fù)浜珊推穹较驅(qū)ξ照{(diào)制效應(yīng)有較大的影響。在文中計算條件下,將拓?fù)浜蔀?的x線偏振渦旋光束應(yīng)用于吸收調(diào)制單點(diǎn)超分辨技術(shù)中時,能獲得約205nm的理論分辨率。本文的研究結(jié)果,對于吸收調(diào)制單點(diǎn)超分辨技術(shù)的研究,特別是通過優(yōu)化光場分布提高分辨率的研究具有指導(dǎo)意義。

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