【摘要】：為評估高階模式二次電子倍增對加速器射頻腔動態(tài)建場過程的影響,采用蒙特卡羅與粒子模擬相結(jié)合的方法對金屬無氧銅腔體雙邊二次電子倍增一階與三階模式的瞬態(tài)演化及飽和特性進(jìn)行了數(shù)值模擬對比研究.研究結(jié)果表明:二次電子倍增過程中,二次電子數(shù)目、放電電流、放電功率、沉積功率隨時間呈現(xiàn)以指數(shù)形式快速增長后趨于飽和振蕩的物理規(guī)律;相對一階模式,三階模式的飽和值更低且上升時間更長.放電電流存在延時現(xiàn)象,由此引發(fā)了二次電子倍增過程中部分充電現(xiàn)象的出現(xiàn).統(tǒng)計(jì)發(fā)現(xiàn)平均放電功率等于平均沉積功率,三階模式的放電功率大約是一階模式1%的水平,由此判斷加速器腔體動態(tài)建場過程中高階模式的影響較小.二次電子倍增過程中,一階模式呈現(xiàn)單電子束團(tuán)加速運(yùn)動特性,而三階模式則呈現(xiàn)加速/減速/加速及多電子束團(tuán)相向運(yùn)動的復(fù)雜特性;二次電子倍增進(jìn)入飽和后,三階模式的空間電荷效應(yīng)明顯弱于一階模式.
【作者單位】： 西南交通大學(xué)物理科學(xué)與技術(shù)學(xué)院;北京應(yīng)用物理與計(jì)算數(shù)學(xué)研究所;中國工程物理研究院流體物理研究所;
【基金】：國家自然科學(xué)基金(批準(zhǔn)號:11475155,11305015)資助的課題~~
【分類號】：O462.2
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本文編號：2552107