【摘要】：采用終端短路同軸開口波導(dǎo)技術(shù),將開口同軸波導(dǎo)作為傳感器,測量樣品加載時的復(fù)反射系數(shù),運用優(yōu)化迭代反演求得待測材料的相對介電常數(shù).詳細介紹了所采用的理論模型和測量系統(tǒng),測量了一些常見介質(zhì)材料的復(fù)反射系數(shù),復(fù)反射系數(shù)參考值與理論計算值基本吻合,證明了該方法的合理性及可行性.
[Abstract]:Using the terminal short circuit coaxial waveguide technology, the open coaxial waveguide is used as the sensor to measure the complex reflection coefficient when the sample is loaded, and the relative dielectric constant of the material to be measured is obtained by optimizing iterative inversion. The theoretical model and measurement system are introduced in detail. The complex reflection coefficients of some common dielectric materials are measured. The reference values of the complex reflection coefficients are in good agreement with the theoretical calculation values, which proves the rationality and feasibility of the method.
【作者單位】： 上海大學(xué)通信與信息工程學(xué)院;
【基金】：上海市重點學(xué)科建設(shè)資助項目(S30108) 上海市委重點實驗室資助項目(08DZ2231100)
【分類號】：O441.5

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本文編號：2222123