正入射反射式太赫茲光譜測(cè)量的不確定度分析(英文)
本文關(guān)鍵詞:正入射反射式太赫茲光譜測(cè)量的不確定度分析(英文) 出處:《紅外與毫米波學(xué)報(bào)》2017年01期 論文類型:期刊論文
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【摘要】:太赫茲時(shí)域光譜技術(shù)能夠快速、寬頻帶測(cè)量物質(zhì)在太赫茲頻段的光學(xué)或介電常數(shù),是物質(zhì)識(shí)別的重要技術(shù).光學(xué)常數(shù)的測(cè)量準(zhǔn)確度完全受到復(fù)雜的測(cè)量過(guò)程和數(shù)據(jù)處理所影響.針對(duì)正入射反射式THz光譜測(cè)量,分析了在測(cè)量材料介電特性過(guò)程中的誤差來(lái)源,它們包括太赫茲幅值誤差、位置誤差以及樣品傾斜誤差.建立了單獨(dú)表征每個(gè)誤差來(lái)源對(duì)于光學(xué)常數(shù)影響的不確定度分量的公式.利用MATLAB仿真了每個(gè)誤差來(lái)源對(duì)于光學(xué)參數(shù)不確定度的影響.
【作者單位】: 貴州省計(jì)量測(cè)試院;貴陽(yáng)職業(yè)技術(shù)學(xué)院生化工程系;
【基金】:Supported by National Natural Science of China(21503045,61540038) Guizhou Science and Technology Department(J20142107,SY20143065)
【分類號(hào)】:O433.1
【正文快照】: Introduction In the past decades,the terahertz time-domain spectroscopy(THz-TDS)has become a powerful tool to measure materials’optical constants in the THz domain.There are two configurations of measurement mode in a THz-TDS system.One is the transmis
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本文編號(hào):1309762
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