基于外腔反饋二極管線陣列的smile效應(yīng)測量方法
發(fā)布時(shí)間:2017-12-13 08:00
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【摘要】:采用外建激光諧振腔,在低于原芯片閾值的電流激勵(lì)下對(duì)LDA的每個(gè)發(fā)光點(diǎn)進(jìn)行單獨(dú)測量,從而分析整個(gè)半導(dǎo)體激光陣列(LDA)的smile效應(yīng)。實(shí)驗(yàn)中利用鍍膜反射率大于半導(dǎo)體前腔面的外腔鏡形成外腔半導(dǎo)體激光器。在外腔中插入曲面平行于p-n結(jié)的柱面鏡,使只在光軸上的發(fā)光點(diǎn)與外腔鏡形成外腔激光器,降低該發(fā)光點(diǎn)的激光閾值,從而使其在正常的閾值以下的電流激勵(lì)下輸出激光,在平行于p-n結(jié)的方向移動(dòng)柱面鏡,可以逐個(gè)對(duì)半導(dǎo)體激光器中的發(fā)光點(diǎn)進(jìn)行選擇測量,從而獲得LDA smile效應(yīng)的測量值。測量中的低電流激勵(lì)產(chǎn)生的熱量對(duì)芯片壽命沒有影響,對(duì)LDA的發(fā)光點(diǎn)的單個(gè)測量也避免了其他發(fā)光點(diǎn)對(duì)CCD的影響。
【作者單位】: 北京工業(yè)大學(xué)激光工程研究院;
【分類號(hào)】:TN248.4
【正文快照】: 1引言半導(dǎo)體激光器以重量輕、體積小、光電轉(zhuǎn)化率高、具有便攜性等優(yōu)點(diǎn),在工業(yè)應(yīng)用中扮演越來越重要的角色。但在半導(dǎo)體激光封裝中,熱應(yīng)力引起半導(dǎo)體激光陣列(LDA)中各個(gè)發(fā)光單元在垂直于p-n結(jié)方向發(fā)生位移,使陣列中各個(gè)發(fā)光單元不在一條直線上,這種現(xiàn)象被稱為smile效應(yīng)[1]。
【相似文獻(xiàn)】
中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前4條
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,本文編號(hào):1284361
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