本文關(guān)鍵詞：基于外腔反饋二極管線陣列的smile效應(yīng)測量方法

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【摘要】：采用外建激光諧振腔,在低于原芯片閾值的電流激勵下對LDA的每個發(fā)光點進行單獨測量,從而分析整個半導(dǎo)體激光陣列(LDA)的smile效應(yīng)。實驗中利用鍍膜反射率大于半導(dǎo)體前腔面的外腔鏡形成外腔半導(dǎo)體激光器。在外腔中插入曲面平行于p-n結(jié)的柱面鏡,使只在光軸上的發(fā)光點與外腔鏡形成外腔激光器,降低該發(fā)光點的激光閾值,從而使其在正常的閾值以下的電流激勵下輸出激光,在平行于p-n結(jié)的方向移動柱面鏡,可以逐個對半導(dǎo)體激光器中的發(fā)光點進行選擇測量,從而獲得LDA smile效應(yīng)的測量值。測量中的低電流激勵產(chǎn)生的熱量對芯片壽命沒有影響,對LDA的發(fā)光點的單個測量也避免了其他發(fā)光點對CCD的影響。
【作者單位】： 北京工業(yè)大學(xué)激光工程研究院;
【分類號】：TN248.4
【正文快照】： 1引言半導(dǎo)體激光器以重量輕、體積小、光電轉(zhuǎn)化率高、具有便攜性等優(yōu)點,在工業(yè)應(yīng)用中扮演越來越重要的角色。但在半導(dǎo)體激光封裝中,熱應(yīng)力引起半導(dǎo)體激光陣列(LDA)中各個發(fā)光單元在垂直于p-n結(jié)方向發(fā)生位移,使陣列中各個發(fā)光單元不在一條直線上,這種現(xiàn)象被稱為smile效應(yīng)[1]。

【相似文獻】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前4條

1 荊帥;竇汝海;史曉剛;陳建國;;“smile”對一維分布光源相干合束的影響[J];激光雜志;2009年01期

2 李弋;鄭鋼;雷軍;高松信;武德勇;;二極管激光器陣列封裝工藝對smile效應(yīng)影響因素分析[J];強激光與粒子束;2014年03期

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本文編號：1284361