基于改進(jìn)粒子群算法的雷達(dá)裝備測試性設(shè)計優(yōu)化技術(shù)
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【部分圖文】:
圖1測試性方案設(shè)計內(nèi)容
1)從宏觀角度來分析如圖1所示。從宏觀角度對雷達(dá)裝備的各方面信息和數(shù)據(jù)進(jìn)行綜合評估和考慮,針對壽命周期、測試級別、系統(tǒng)任務(wù)、總線接口等方面的不同,綜合權(quán)衡,制定出多種情況下適合雷達(dá)裝備的全壽命周期測試優(yōu)化方案。
圖2測試性方案優(yōu)化設(shè)計技術(shù)路線
2)從微觀角度來分析如圖2所示。要依據(jù)雷達(dá)裝備的不同情況,明確不同狀態(tài)、不同單元測試性方案的設(shè)計要求,然后確定裝備測試與診斷具體實施過程,最后給出測試性方案優(yōu)化設(shè)計技術(shù)路線。
圖3基于測試效能、測試代價的BIT設(shè)計優(yōu)化技術(shù)
所謂的測試性優(yōu)化設(shè)計是一個綜合考慮功能、性能和可靠性約束的過程,要從裝備的測試性設(shè)計一開始就對各組成要素進(jìn)行權(quán)衡,以得到最優(yōu)的測試性優(yōu)化方案。針對雷達(dá)系統(tǒng)進(jìn)行基于測試性效能、測試代價等元素的測試性優(yōu)化技術(shù),其基本思路如圖3所示。如圖3所示,首先,根據(jù)雷達(dá)系統(tǒng)在生產(chǎn)、使用和驗證階段....
圖4適應(yīng)度計算流程
適應(yīng)度計算流程如圖4所示。當(dāng)進(jìn)化到第K代時,計算粒子所選測試集的故障檢測率,當(dāng)計算的故障檢測率大于等于要求的故障檢測率時,根據(jù)式(13)計算粒子的適應(yīng)度,如不滿足此約束條件,則從未被選擇的測試集中挑選p/c較大者進(jìn)行補(bǔ)充,直到符合約束條件。依此類推,直到所有的粒子完成計算。
本文編號:3939002
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