平均選大恒虛警率檢測算法是一種比較成熟的檢測算法,但是在干擾環(huán)境、雜波環(huán)境以及多目標環(huán)境中,檢測門限會提高,使得檢測性能下降。改進了平均選大恒虛警率檢測算法,提出了一種雙參數(shù)恒虛警率檢測算法,仿真結(jié)果表明:此種算法可以提高在干擾環(huán)境、雜波環(huán)境以及多目標環(huán)境下的檢測性能。 

【文章來源】：艦船電子對抗. 2020年05期

【文章頁數(shù)】：4 頁

【部分圖文】：

恒虛警算法設(shè)計框圖

以平均選大恒虛警檢測算法為基礎(chǔ)(如圖2所示),檢測單元兩側(cè)各留1個距離單元作為保護單元,各取n+2個距離單元作為參考單元,分別從n+2個參考單元中刪除2個最大的干擾,各保留n個單元,共2n個參考單元作為估計雜波均值的樣本。圖3所示為改進后的雙參數(shù)恒虛警算法檢測器方框圖,D為檢測單元,x-1…x-(n+2)和x1…x(n+2)分別為檢測單元兩側(cè)的參考單元,分別從兩側(cè)參考單元中剔除2個最大值,剩下的共2n個參考單元求和并計算平均值 u ˉ 。

剔除2個最大值后的兩側(cè)2n個參考單元的數(shù)值分別減去平均值 u ˉ ,再取絕對值,得到參考單元的數(shù)據(jù)起伏樣本 Δx i =| x i - u ˉ | 。利用兩側(cè)共2n個Δxi估計無偏均方差 σ= 1 2n-1 ∑ i=1 2n Δ x i 2 。最后進行檢測,檢測門限 V t = u ˉ +k×σ ,即如果 D> u ˉ +k×σ ,則判決為有目標,否則判決為沒有目標。其中k為門限系數(shù),其值與虛警率有關(guān),可通過虛警測試確定。2 仿真分析


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