自被引入口腔正畸領域以來,X線頭影測量分析技術(shù)就已經(jīng)成為研究顱面生長發(fā)育、臨床畸形診斷與矯治設計的重要工具。而X線頭影測量分析首先要確定各個解剖點的位置,然后根據(jù)這些解剖點構(gòu)成的線角關系進行分析,和正常人比較后得出診斷結(jié)論。因此解剖特征點的定位精度直接影響X線頭影測量分析的準確度。目前臨床對X線頭影測量圖像解剖特征點仍然采用手動標記方式。然而,即使有經(jīng)驗的醫(yī)師手動標記也非常耗時,且受醫(yī)師個人經(jīng)驗、精力等主觀因素較大。因此,發(fā)展X線頭影測量圖像解剖特征點的自動定位方法可以作為這些問題的解決方案,并且是具有重要的科研意義與臨床價值的。為了解決二維X線頭影測量圖像口腔解剖特征點的自動定位問題,本文提出了一種基于對抗性自動編碼網(wǎng)絡的二維X線頭影測量圖像口腔解剖特征點自動定位的算法。算法的整個流程包括數(shù)據(jù)預處理階段、訓練階段和測試階段。首先在數(shù)據(jù)預處理階段對二維X線頭影測量圖像進行裁剪處理,并根據(jù)待檢測的解剖特征點計算得到對應的偏移距離圖,接著在訓練階段,模型將預處理后的頭影測量圖像與對應的偏移距離圖作為輸入數(shù)據(jù)訓練模型生成器,生成器輸出預測的偏移距離圖,再使用真實的偏移距離圖與預測的偏移距離圖... 

【文章來源】：南京郵電大學江蘇省

【文章頁數(shù)】：70 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

X射線產(chǎn)生原理

南京郵電大學碩士研究生學位論文第一章緒論3圖1.1X射線產(chǎn)生原理X射線可以被物體吸收，也能被散射。如圖1.2所示是物體對X射線的吸收過程，當X射線穿過樣品時，由于樣品對X射線有吸收和散射作用，X射線的強度會發(fā)生衰減，并且衰減的程度與樣品的材料結(jié)構(gòu)及物質(zhì)組成有關，通過分析吸收光譜可以分析樣品的材料結(jié)構(gòu)與組成。這種分析吸收光譜的技術(shù)被廣泛應用于分析固體、液體、氣體等各類物質(zhì)的結(jié)構(gòu)信息及電子狀態(tài)等領域。圖1.2物質(zhì)對X射線的吸收

南京郵電大學碩士研究生學位論文第一章緒論4由于X射線能被物體吸收，并且不同材料，不同厚度的物體，吸收X射線的能力不一樣，比如人體不同的組織對X射線的吸收率有所不同，如圖1.3所示是X射線穿過不同厚度的物體的吸收情況的示意圖。當X射線穿過物體較厚區(qū)域時，由于X射線衰減程度較大，探測器獲得的X射線強度較小；而當X射線穿過物體較薄區(qū)域時，X射線衰減程度較小，故探測器獲得的X射線強度較大。因為探測器獲得的X射線強度有變化，所以最終獲得的圖像會形成灰度對比。圖1.3X射線經(jīng)過不同厚度物質(zhì)后的強度示意圖1.2.2X線頭影測量技術(shù)簡介X線頭影測量（Cephalometrics），通過對X片進行分析、測量，從而了解牙頜、顱面骨骼及軟組織發(fā)育狀況和相互關系。相互關系是指對X線頭影測量圖像中各解剖特征點描繪出一定的線角進行測量分析，得到了一系列指標后就可以了解牙頜、顱面軟組織和骨骼的結(jié)構(gòu)，從而對進一步的口腔正畸治療或其他臨床治療有更為清晰的診斷。X線頭影測量分析技術(shù)已經(jīng)成為口腔正畸等相關外科專業(yè)的臨床診斷、治療及研究的重要工具。X線頭影測量一般分為四步：（1）拍片：使用圖1.4所示的頭顱定位儀，將患者頭部固定，按標準化流程拍攝患者的標準化頭側(cè)位片；（2）描圖：描圖前要檢查頭側(cè)位片的拍攝質(zhì)量，檢查完畢后在頭側(cè)位片上描繪顱，面，頜等解剖結(jié)構(gòu)輪廓，如圖1.5所示，人工描圖需要準備好相關描圖的工具，描完圖的X線頭影圖如圖1.6所示；（3）定點：根據(jù)標記的標志點，通過幾何關系，確定代表顱，面，頜骨骼形態(tài)的點，線，

【參考文獻】：
期刊論文
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本文編號：3417912