發(fā)布時(shí)間：2018-01-03 13:03

  本文關(guān)鍵詞：用X射線衍射精確表征硅酸三鈣多晶型　出處：《硅酸鹽學(xué)報(bào)》2014年02期 　論文類型：期刊論文

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【摘要】：在1 500℃條件下,通過摻雜質(zhì)量分?jǐn)?shù)為0、0.6%及1.5%的MgO制備了T1、T3及M3型硅酸三鈣(C3S)。使用不同分辨率的X射線衍射儀對(duì)樣品進(jìn)行分析。結(jié)果表明:不同晶型的C3S指紋區(qū)X射線粉末衍射特征峰存在明顯差異,衍射峰的不同可以用于判定C3S晶型;當(dāng)X射線衍射儀分辨率較低(儀器半高寬≥0.129°)且存在Ka2時(shí),得到的C3S衍射峰特征不明顯,存在重疊現(xiàn)象,無法判定C3S晶型;使用高分辨率衍射儀(儀器半高寬≤0.072°),無Ka2影響下,得到的衍射峰清晰,可以對(duì)C3S晶型進(jìn)行精確判定。
[Abstract]:T1 was prepared by doping 0.6% MgO and 1.5% wt% MgO at 1 500 鈩，

本文編號(hào)：1373991