軟件缺陷預(yù)測(cè)是根據(jù)軟件產(chǎn)品中提取的度量信息和已經(jīng)發(fā)現(xiàn)的缺陷來(lái)盡早地預(yù)測(cè)軟件可能還存在的缺陷,基于預(yù)測(cè)結(jié)果可合理分配測(cè)試和驗(yàn)證資源.基于機(jī)器學(xué)習(xí)的缺陷預(yù)測(cè)技術(shù)能夠較全面地、自動(dòng)地學(xué)習(xí)模型來(lái)發(fā)現(xiàn)軟件中的缺陷,已經(jīng)成為缺陷預(yù)測(cè)的主要方法.為了提高預(yù)測(cè)的效率和準(zhǔn)確性,對(duì)機(jī)器學(xué)習(xí)算法的選擇和研究是很關(guān)鍵的.對(duì)不同的機(jī)器學(xué)習(xí)缺陷預(yù)測(cè)方法進(jìn)行對(duì)比分析,發(fā)現(xiàn)各算法在不同評(píng)價(jià)指標(biāo)上有不同的優(yōu)勢(shì),利用這些優(yōu)勢(shì)并結(jié)合機(jī)器學(xué)習(xí)中的stacking集成學(xué)習(xí)方法提出了將不同預(yù)測(cè)算法的預(yù)測(cè)結(jié)果作為軟件度量并進(jìn)行再次預(yù)測(cè)的基于組合機(jī)器學(xué)習(xí)算法的軟件缺陷預(yù)測(cè)模型,最后用該模型對(duì)Eclipse數(shù)據(jù)集進(jìn)行實(shí)驗(yàn),表明了該模型的有效性.

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【文章目錄】：
1 基于機(jī)器學(xué)習(xí)的缺陷預(yù)測(cè)模型
    1.1 缺陷預(yù)測(cè)模型
        1.1.1 分類(lèi)
        1.1.2 排序
    1.2 機(jī)器學(xué)習(xí)算法
2 基于機(jī)器學(xué)習(xí)的缺陷預(yù)測(cè)模型
    2.1 提出問(wèn)題
    2.2 基于組合的機(jī)器學(xué)習(xí)算法的缺陷預(yù)測(cè)模型
        2.2.1 數(shù)據(jù)預(yù)處理
        2.2.2 組合預(yù)測(cè)模型
        2.2.3 評(píng)價(jià)指標(biāo)
3 實(shí)驗(yàn)與分析
    3.1 實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)備
    3.2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
        3.2.1 分類(lèi)預(yù)測(cè)
        3.2.2 排序預(yù)測(cè)
4 總結(jié)與展望



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