電子散斑干涉術(shù)測量技術(shù)（ESPI）是一種非接觸、高靈敏度、高精度、可全場測量的現(xiàn)代光學測量技術(shù)。利用ESPI可以實現(xiàn)對待測物體的粗糙表面的位移、形變、粗糙度、振動的幅度和頻率以及應(yīng)力應(yīng)變等信息進行測量。但是,傳統(tǒng)的電子散斑干涉術(shù)測量技術(shù)中位移場的測量都是基于位移前后的兩種狀態(tài),均未涉及到時間參數(shù)。時域散斑干涉測量（TSPI）有效得解決了傳統(tǒng)電子散斑干涉測量技術(shù)所未能解決的問題,如動態(tài)跟蹤檢測等。因為無需使用相移裝置,使得測量系統(tǒng)獲得簡化,更容易消除實際測量過程中惡劣環(huán)境的影響。因此,將TSPI應(yīng)用于物體表面的三維測量,能夠使測量擁有非接觸、高精度、實時動態(tài)、可全場等優(yōu)點。在航天航空、機械制造、醫(yī)學生物等領(lǐng)域都有著廣泛地應(yīng)用,成為了國際上的一個熱門的研究方向。鑒于此,本論文提出一種新的基于時域散斑干涉的三維測量技術(shù),而且針對現(xiàn)有的三維散斑測量系統(tǒng)的不足,做了相應(yīng)的調(diào)整和改進。因此,該系統(tǒng)既有TSPI的實時動態(tài)測量的優(yōu)點,又改進了現(xiàn)有三維測量技術(shù),利用一個3CCD相機,簡化了實驗裝置,提高了測量精度。論文主要圍繞測量理論分析、實驗系統(tǒng)構(gòu)成和算法處理設(shè)計三個方面展開。本篇論文的主要工作有:（... 

【文章來源】：北京交通大學北京市 211工程院校 教育部直屬院校

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【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

散斑干涉原理圖

北京交通大學碩士學位論文?第二章電子散斑干涉測量技２．２．１單ＣＣＤ相機??單ＣＣＤ相機中使用的是由伊士曼？柯達公司的科學家Ｂｒｙｃｅ?Ｂａｙｅｒ發(fā)明Ｂａｙｅｒ濾鏡［４Ｑ］。有著Ｂａｙｅｒ濾鏡的相機是當前最為流行的。如圖２－２所示，基Ｂａｙｅｒ濾鏡［４１］的單ＣＣＤ相機的基本工作原理是采用一個Ｂａｙｅｒ彩色濾波陣列的鏡將光透射到ＣＣＤ感光元件上，這種濾鏡以相同的模式重復(fù)出現(xiàn)，濾鏡上的每濾波鏡片與ＣＣＤ感應(yīng)元件相應(yīng)位置的像素點一一對應(yīng)，每四個像素組成一個單一個紅色的濾鏡透過紅光，兩個綠色的濾鏡透過綠光，一個藍色的濾鏡透過藍光，??然后透過的光被感光基板接收，再通過一些補償算法從而獲得圖像信息。??Ｌｉｇｈｔ??

。??Ｌｉｇｈｔ??電，？?６?Ａ?，４??網(wǎng)，＿?￣Ｂ￣１?■?■?Ｍｉｌ?ＴＴ￣??二?｜?｜?｜?｜?＿■二■二??團＿１＿匾＿驪＿?＿二?？??｜?｜?ｉ：??ｉ＝團＝１二驪二?■?■?■?■?＿?＝?Ｉ?Ｉ?ｒ??二?＿?二二：■?■?■?■??■二霪＿■二■二?ＩＩＩ?｜?＿??ｎ?ｎ?ｎ?ｒｉｊ?Ｄｃｊｎｃｉ?［＂■■■■??圖２－２?Ｂａｙｅｒ濾鏡的原理圖??Ｆｉｇ．２．２．?Ｔｈｅ?ｐｒｉｎｃｉｐｌｅ?ｏｆ?Ｂａｙｅｒ?ｆｉｌｔｅｒ??通過Ｂａｙｅｒ濾鏡的光信號經(jīng)過感光元件轉(zhuǎn)化成數(shù)字信號，為了最終獲得ＲＧＢ??值，則須要利用插值的辦法將每一像素點被人為濾去的另外兩個顏色算出來。插??值的方法有許多種，權(quán)衡運算速度與成像質(zhì)量，最常用的是線性插值［４２’４３］的補償??算法。??（１）對紅色（Ｒ）和藍色（Ｂ）分量進行線性插值。一共有四種分布，如圖２－３??所示。??

【參考文獻】：
期刊論文
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碩士論文
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本文編號：3511607