弱變異測(cè)試中的耦合效應(yīng)研究
發(fā)布時(shí)間：2021-09-25 05:50
在變異測(cè)試領(lǐng)域,耦合效應(yīng)假設(shè)認(rèn)為一個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)集可以檢測(cè)一個(gè)程序中的所有簡(jiǎn)單錯(cuò)誤也可以檢測(cè)高百分比的復(fù)雜錯(cuò)誤,它是變異測(cè)試的一個(gè)基本假設(shè)。因?yàn)槌绦虻膱?zhí)行路徑通常依賴(lài)于謂詞語(yǔ)句中的布爾表達(dá)式,因此,基于故障的布爾規(guī)格測(cè)試是一項(xiàng)重要的弱變異測(cè)試技術(shù)。但是布爾規(guī)格測(cè)試中的耦合效應(yīng)假設(shè)是否成立,這一問(wèn)題仍是未知的。本學(xué)位論文以20個(gè)布爾表達(dá)式為實(shí)驗(yàn)對(duì)象,以10種常見(jiàn)故障類(lèi)型為變異類(lèi)型,研究弱變異測(cè)試中耦合效應(yīng)是否存在問(wèn)題。首先通過(guò)工具生成一階變異體,二階變異體以及一階二階變異體的測(cè)試用例集。通過(guò)對(duì)一階二階測(cè)試用例集的測(cè)試用例分析來(lái)對(duì)比一階變異體和二階變異體的檢測(cè)難度大小。對(duì)一階測(cè)試用例集約簡(jiǎn)獲得測(cè)試充分集,計(jì)算一階測(cè)試用例充分集檢測(cè)二階變異體的比例,從而進(jìn)行耦合效應(yīng)的分析。本文的工作創(chuàng)新主要體現(xiàn)在以下三個(gè)方面:（1）對(duì)一階變異和二階變異進(jìn)行分析,發(fā)現(xiàn)在變異測(cè)試中,一階變異體的檢測(cè)難度大于二階變異體。（2）使用測(cè)試用例約簡(jiǎn)算法對(duì)一階測(cè)試用例集進(jìn)行約簡(jiǎn)得到一階測(cè)試充分集,計(jì)算一階測(cè)試充分集殺死二階變異體的錯(cuò)誤檢測(cè)概率,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明對(duì)于任一種故障類(lèi)型,耦合效應(yīng)都不能保證百分百存在,特別當(dāng)高階變異體設(shè)計(jì)...
【文章來(lái)源】：南京郵電大學(xué)江蘇省
【文章頁(yè)數(shù)】：60 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【部分圖文】：
傳統(tǒng)變異測(cè)試過(guò)程
圖 3.1 生成失敗測(cè)試用例和成功測(cè)試用例流程表 3.3 布爾表達(dá)式的一階和二階變異體數(shù)量表達(dá)式一階變異體 二階變異體表達(dá)式一階變異體 二階變異體所有 非等價(jià) 所有 非等價(jià) 所有 非等價(jià) 所有 非等價(jià)TCAS1 172 138 19135 16931 TCAS11 1366 1024 1001015 916106TCAS2 1077 791 617548 556754 TCAS12 714 638 290447 280562TCAS3 467 354 125462 112117 TCAS13 1987 1372 2082998 1840904TCAS4 561 467 177004 166516 TCAS14 781 704 347773 337168TCAS5 371 289 81915 73460 TCAS15 3296 2576 5639504 5311694TCAS6 901 728 441730 414298 TCAS16 992 805 551980 516399TCAS7 475 423 131743 126266 TCAS17 2606 2025 3559952 3335826TCAS8 2121 1624 2345199 2185545 TCAS18 1239 965 848420 782752
圖 3.2 一階變異體和二階變異體的錯(cuò)誤檢測(cè)概率（按表達(dá)式）從第一階變異類(lèi)型的角度來(lái)對(duì)比一階和二階變異體的錯(cuò)誤檢測(cè)概率。對(duì) 10 種故障類(lèi)型，圖 3.3 顯示了一種變異類(lèi)型變異而成的一階變異體和以其為第一階變異的二階變異體的錯(cuò)誤檢測(cè)概率。圖中有十組盒圖，每組盒圖有兩個(gè)盒圖，第一個(gè)表示在這種變異類(lèi)型為變異算子的一階變異體的錯(cuò)誤檢測(cè)概率，第二個(gè)表示這種變異類(lèi)型為二階變異體的第一階變異類(lèi)型的情況下，二階變異體的錯(cuò)誤檢測(cè)概率。圖 3.3 中，在第一階變異類(lèi)型為 CCF、CDF、LNF、LRF、MLF，SA0 和 SA1 時(shí)，二階變異體的錯(cuò)誤檢測(cè)概率的均值和最大值高于一階變異體的錯(cuò)誤檢測(cè)概率。在其他類(lèi)型下，整體盒圖相當(dāng)。
本文編號(hào)：3409219
【文章來(lái)源】：南京郵電大學(xué)江蘇省
【文章頁(yè)數(shù)】：60 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【部分圖文】：
傳統(tǒng)變異測(cè)試過(guò)程
圖 3.1 生成失敗測(cè)試用例和成功測(cè)試用例流程表 3.3 布爾表達(dá)式的一階和二階變異體數(shù)量表達(dá)式一階變異體 二階變異體表達(dá)式一階變異體 二階變異體所有 非等價(jià) 所有 非等價(jià) 所有 非等價(jià) 所有 非等價(jià)TCAS1 172 138 19135 16931 TCAS11 1366 1024 1001015 916106TCAS2 1077 791 617548 556754 TCAS12 714 638 290447 280562TCAS3 467 354 125462 112117 TCAS13 1987 1372 2082998 1840904TCAS4 561 467 177004 166516 TCAS14 781 704 347773 337168TCAS5 371 289 81915 73460 TCAS15 3296 2576 5639504 5311694TCAS6 901 728 441730 414298 TCAS16 992 805 551980 516399TCAS7 475 423 131743 126266 TCAS17 2606 2025 3559952 3335826TCAS8 2121 1624 2345199 2185545 TCAS18 1239 965 848420 782752
圖 3.2 一階變異體和二階變異體的錯(cuò)誤檢測(cè)概率（按表達(dá)式）從第一階變異類(lèi)型的角度來(lái)對(duì)比一階和二階變異體的錯(cuò)誤檢測(cè)概率。對(duì) 10 種故障類(lèi)型，圖 3.3 顯示了一種變異類(lèi)型變異而成的一階變異體和以其為第一階變異的二階變異體的錯(cuò)誤檢測(cè)概率。圖中有十組盒圖，每組盒圖有兩個(gè)盒圖，第一個(gè)表示在這種變異類(lèi)型為變異算子的一階變異體的錯(cuò)誤檢測(cè)概率，第二個(gè)表示這種變異類(lèi)型為二階變異體的第一階變異類(lèi)型的情況下，二階變異體的錯(cuò)誤檢測(cè)概率。圖 3.3 中，在第一階變異類(lèi)型為 CCF、CDF、LNF、LRF、MLF，SA0 和 SA1 時(shí)，二階變異體的錯(cuò)誤檢測(cè)概率的均值和最大值高于一階變異體的錯(cuò)誤檢測(cè)概率。在其他類(lèi)型下，整體盒圖相當(dāng)。
本文編號(hào)：3409219
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