【摘要】：條紋投影和相位偏折測量術(shù)可用于精確地測量待測物面形,在全場光學三維輪廓測量領(lǐng)域具有較好的發(fā)展前景。首先,介紹了條紋投影和相位偏折測量技術(shù)的基本原理,重點是這兩種技術(shù)中的相位提取技術(shù)、攝像機定標技術(shù)等關(guān)鍵技術(shù)。其次,對條紋投影和相位偏折測量術(shù)這兩種測量方法的異同點做了對比。最后,介紹了條紋投影和相位偏折測量技術(shù)在提升測量精度和速度方面的發(fā)展。為了提升測量精度,主要有校正條紋Gamma效應(yīng)、提升相位提取精度、攝像機標定精度和相位-高度/梯度標定精度等途徑;為了提升測量速度,主要有提升相位提取速度、相位解包裹速度等方法。
[Abstract]:Fringe projection and phase deflectometry can be used to accurately measure the shape of object to be measured. It has a good prospect in the field of full-field optical three-dimensional profile measurement. Firstly, the basic principles of fringe projection and phase deflection measurement are introduced. The emphasis is on the key techniques of phase extraction and camera calibration. Secondly, the similarities and differences between fringe projection and phase deflection measurement are compared. Finally, the development of fringe projection and phase deflection measurement technology in improving measurement accuracy and speed is introduced. In order to improve the measurement accuracy, there are several ways to improve the measurement accuracy, such as correcting the Gamma effect of fringe, raising the precision of phase extraction, calibrating the camera and the precision of phase-height / gradient calibration, and raising the speed of phase extraction in order to improve the measuring speed. Phase unwrapping velocity and so on.
【作者單位】： 浙江大學光電科學與工程學院現(xiàn)代光學儀器國家重點實驗室;中國計量大學計量測試工程學院;中國科學院長春光學精密機械與物理研究所應(yīng)用光學國家重點實驗室;
【基金】：國家自然科學基金(61475141) 應(yīng)用光學國家重點實驗室開放基金 浙江省自然科學基金(LY17E050014)
【分類號】：TP391.41

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本文編號：2212734