【摘要】：條紋投影和相位偏折測(cè)量術(shù)可用于精確地測(cè)量待測(cè)物面形,在全場(chǎng)光學(xué)三維輪廓測(cè)量領(lǐng)域具有較好的發(fā)展前景。首先,介紹了條紋投影和相位偏折測(cè)量技術(shù)的基本原理,重點(diǎn)是這兩種技術(shù)中的相位提取技術(shù)、攝像機(jī)定標(biāo)技術(shù)等關(guān)鍵技術(shù)。其次,對(duì)條紋投影和相位偏折測(cè)量術(shù)這兩種測(cè)量方法的異同點(diǎn)做了對(duì)比。最后,介紹了條紋投影和相位偏折測(cè)量技術(shù)在提升測(cè)量精度和速度方面的發(fā)展。為了提升測(cè)量精度,主要有校正條紋Gamma效應(yīng)、提升相位提取精度、攝像機(jī)標(biāo)定精度和相位-高度/梯度標(biāo)定精度等途徑;為了提升測(cè)量速度,主要有提升相位提取速度、相位解包裹速度等方法。
[Abstract]:Fringe projection and phase deflectometry can be used to accurately measure the shape of object to be measured. It has a good prospect in the field of full-field optical three-dimensional profile measurement. Firstly, the basic principles of fringe projection and phase deflection measurement are introduced. The emphasis is on the key techniques of phase extraction and camera calibration. Secondly, the similarities and differences between fringe projection and phase deflection measurement are compared. Finally, the development of fringe projection and phase deflection measurement technology in improving measurement accuracy and speed is introduced. In order to improve the measurement accuracy, there are several ways to improve the measurement accuracy, such as correcting the Gamma effect of fringe, raising the precision of phase extraction, calibrating the camera and the precision of phase-height / gradient calibration, and raising the speed of phase extraction in order to improve the measuring speed. Phase unwrapping velocity and so on.
【作者單位】： 浙江大學(xué)光電科學(xué)與工程學(xué)院現(xiàn)代光學(xué)儀器國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;中國(guó)計(jì)量大學(xué)計(jì)量測(cè)試工程學(xué)院;中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所應(yīng)用光學(xué)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金(61475141) 應(yīng)用光學(xué)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室開放基金 浙江省自然科學(xué)基金(LY17E050014)
【分類號(hào)】：TP391.41

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本文編號(hào)：2212734