相移陰影莫爾條紋正交化解調(diào)技術(shù)
發(fā)布時間:2018-06-15 23:41
本文選題:光學(xué)裝置 + 測量; 參考:《光子學(xué)報》2017年07期
【摘要】:提出一種基于克萊姆正則化分析法的三幀自標(biāo)定相移陰影莫爾三維輪廓技術(shù).該技術(shù)首先采用移動光柵的方法獲得相移條紋圖,然后通過不同幀相移條紋圖相減去除條紋圖背景,進而結(jié)合克萊姆正交化法和最小二乘法,發(fā)展了一種相位解調(diào)方法,提取了測量相位.以五步Harlharan算法為參考,用不同算法對同一物體表面進行測量.結(jié)果表明,相對于典型的三步相移法和主量分析方法,提出的方法測量得到的相位誤差最小(0.5rad),且簡化了測量過程.
[Abstract]:A three-frame self-calibrating phase-shifted shadow moire 3D contour technique based on Clem regularization analysis is proposed. In this technique, the phase shift stripe is obtained by moving grating, then the background of the stripe is removed by subtraction of different frame phase shift stripe, and then a phase demodulation method is developed by combining Clem orthogonalization and least square method. The measured phase is extracted. Using the five-step Harlharan algorithm as a reference, different algorithms are used to measure the same object surface. The results show that compared with the typical three-step phase shift method and the principal quantity analysis method, the phase error obtained by the proposed method is the smallest and the measurement process is simplified.
【作者單位】: 西安工業(yè)大學(xué)機電工程學(xué)院測量與控制研究所;
【基金】:國家自然科學(xué)基金(Nos.61471288,51475351) 陜西省自然科學(xué)重大基礎(chǔ)研究項目(No.2016ZDJC-10)資助~~
【分類號】:TP391.41
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7 馬廣云,申功p
本文編號:2024177
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