本文關鍵詞： 殘余應力 X射線衍射 環(huán)芯法　出處：《實驗力學》2017年05期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：殘余應力分析方法主要有衍射法、應力釋放法和聲、光、磁等方法。其中,X射線衍射法與應力釋放中的鉆孔技術與理論最為成熟,應用最廣。在應力均勻且數(shù)值較小時,兩者可以給出相互接近的結果。然而當樣品微小且微觀結構復雜時,兩者給出的結果會有明顯的差異。本文利用上述兩種方法對同一純銅樣品表面的殘余應力進行分析,對比分析結果并討論了相關的影響因素。我們對X射線衍射法與環(huán)芯法的適用性進行了討論:前者適用于晶體材料的無損檢測,而后者更能反映當前應力水平。此外,對方法的選用需要考慮應力測試的目的。
[Abstract]:The methods of residual stress analysis mainly include diffraction method, stress release method and acoustic, optical and magnetic methods. The drilling technique and theory in X-ray diffraction and stress release are the most mature and widely used. They can give close results. However, when the sample is small and the microstructure is complex, the results are obviously different. In this paper, the residual stress on the surface of the same pure copper sample is analyzed by using the above two methods. The applicability of X-ray diffraction method and ring core method is discussed: the former is suitable for nondestructive testing of crystal materials, and the latter is more able to reflect the current stress level. The purpose of stress measurement should be taken into account in the selection of methods.
【作者單位】： 清華大學航天航空學院;
【基金】：國家自然科學基金(11227202,1147215,51407176,51477167) 國家重點研究計劃(2013CB934203)資助
【分類號】：O348

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本文編號：1547721